Gebraucht SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #293614932 zu verkaufen

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein leistungsstarkes Werkzeug, das entwickelt wurde, um verschiedene Arten von Materialien schnell und präzise zu messen, zu analysieren und zu vergleichen. SEIKO XV-300DB verfügt über ein ausgeklügeltes optisches Messsystem mit fortschrittlicher Weißlicht-Interferometrie (WLI) und mehreren Bildverarbeitungsalgorithmen. Diese Einheit ist in der Lage, die 3D-optischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben, Wafersubstraten und anderen dünnen Schichten hochauflösend abzubilden und zu messen. Die Maschine verfügt über eine umfassende Messsuite, die Funktionen wie optische Dicke, Oberflächenrauhigkeit, optische kristalline und dielektrische Eigenschaften umfasst. Es bietet auch Analyse von Fehlermustern und Fehlermechanismen sowie detaillierte Dimensionsanalysen mit 3D, X-Y und X-Y-Z Daten. Das Tool bietet eine breite Palette von Fähigkeiten für Wafer-Tests und Messtechnik, einschließlich Litho-Etch-Schicht-Inspektion, durch Defekt, Overlay und SRAM-Analyse, sowie Partikelprüfung. SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB unterstützt auch nanoskalige Mustermessung und Bildgebung mit einer Rasterstufengenauigkeit von 0,1 Nanometern. XV-300DB bietet auch fortschrittliche Software für schnelle und genaue Messungen, Datenanalyse und Workflow-Automatisierung. Die benutzerfreundlichen Easy Mode-Programme reduzieren die Lernkurve erheblich und machen diese Bereicherung für jeden Benutzer unabhängig von seiner technischen Erfahrung perfekt. Der benutzerprogrammierbare Expertenmodus ermöglicht benutzerdefinierte Betriebseinstellungen, sodass Benutzer ihre Messungen auf ihre spezifischen Anwendungsbedürfnisse abstimmen können. Die Software umfasst außerdem eine integrierte Fehlerbibliothek für das Wafer- und Defektdatenmanagement sowie erweiterte Analysefunktionen für die Fehleranalyse und Wartung. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB verfügt über eine integrierte Kamera für genaue Bildgebung und Positionierung von Substraten sowie manuelle Einstellung der Präzisionsausrichtung. Das Modell hat auch ein ergonomisches Design für einfache und bequeme Bedienung. Darüber hinaus ist SEIKO XV-300DB mit vielen Zubehörteilen kompatibel, darunter Breitfeldlinsen, Indexglas, Fluoreszenzbeiträge und vieles mehr. Diese Eigenschaften machen SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB ein wesentliches Multifunktions-Messtechnik-Tool für viele verschiedene Branchen. Um sicherzustellen, dass jede Einheit der Geräte auf ihrem optimalen Leistungsniveau arbeitet, ist XV-300DB mit Remote-Assistenztechnologie ausgestattet, die Online-Support und Upgrades ermöglicht. Darüber hinaus wird das System in einem zertifizierten SEIKO Customer Support Center gewartet und bietet umfassende Wartungs- und Reparaturdienstleistungen. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB Wafer Testing and Metrology Unit ist ein großartiges Werkzeug für jedes Unternehmen, das genaue, zuverlässige und kostengünstige Tests und Messtechnik von dünnen Schichten, Halbleitern und anderen Materialien durchführen muss. Mit seinen fortschrittlichen Analysefunktionen und der leistungsstarken Hardware ist SEIKO XV-300DB die ideale Wahl für heutige High-Tech-Anwendungen.