Gebraucht SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #293667892 zu verkaufen

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB ist eine robuste Prüf- und Messtechnik für Wafer. Es ist multifunktional und entworfen, um Effizienz und Genauigkeit zu optimieren. SEIKO XV-300DB führt entscheidende Schritte für die Entwicklung und Fertigung von hochwertigen mikroelektronischen Komponenten durch. Es verfügt über ein Vision-System mit Farberkennungs- und Kantenerkennungssoftware zur präzisen Ausrichtung des Probenwafers. Diese Einheit wird auch durch eine vollautomatische Handhabungsmaschine ergänzt, die einen schnellen Workflow ermöglicht. Die Bildaufnahmefähigkeiten von SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB umfassen Oberflächenbildgebung, Fourier-Geländemessungen und Widerstandsmessungen. XV-300DB ist für Abtastumgebungen mit hohem Durchsatz ausgelegt. Mit seiner automatisierten Mapping-Funktion kann SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB schnell ganze Wafer scannen, um sie auf etwaige Mängel zu markieren und zu untersuchen. Mit einem Scan-Bereich von bis zu 150mm x 150mm kann SEIKO XV-300DB bis zu 25 mm überlappende Funktionen in einem einzigen Scan genau messen. Das Tool ermöglicht somit dem Anwender, schnelle Ergebnisse mit höherer Qualität zu erzielen. SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB umfasst eine umfassende Scan- und Bildanalyse-Suite, die eine automatisierte Auswertung von bis zu 90 Prozessen und bis zu 100 Eigenschaften ermöglicht. Es ist in der Überprüfung von Oberflächen- und Wafereigenschaften wie Körnigkeit, Oberflächenreflektivität, Adhäsionseigenschaften, Oberflächenebenen, Dicke, Ebenheit und mehr kompetent. Seine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit helfen bei der Verkürzung der Markteinführungszeit jedes Projekts. Jedes Asset enthält eine Reihe von Metriken und Techniken, die für verschiedene Ziele verwendet werden. Dazu gehören Oberflächenprofilierung, kritische Bemaßung (CD) Topographie, Überlagerung und kritische Bemaßung Skalierung, Neigungsmessung, konstante Dickenzuordnung und vieles mehr. Diese Techniken ermöglichen es Benutzern, ein umfassendes Verständnis der topografischen Informationen der Oberfläche zu erlangen. XV-300DB verfügt über eine große Benutzerbasis, die für seine Gesamtleistung und Benutzerzufriedenheit spricht. Es ist auch in der Lage, freihändige Operationen, Verringerung der manuellen Arbeit und damit verbundene Kosten. Die integrierten Testfunktionen helfen auch bei der Beschleunigung von Wafer-Testprozessen. Dieses robuste Test- und Messtechnikmodell hilft bei der Erkennung und dem Verständnis prozessbedingter Fehler, wie z. B. Linienrand- und Breitenrauhigkeit, sowie ertragsmindernder Defekte. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB kann mit seinen überlegenen Bildverarbeitungs- und Analysefähigkeiten helfen, den Ertrag zu verbessern und sicherzustellen, dass hochwertige mikroelektronische Komponenten mit optimaler Effizienz und Genauigkeit hergestellt werden.