Gebraucht SONOPLOT GIX Microplotter #9303841 zu verkaufen

SONOPLOT GIX Microplotter ist ein Top-of-the-Line-Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das verwendet wird, um die elektrischen und physikalischen Eigenschaften von Halbleiter-Wafer-Material zu messen. Dieses System nutzt eine Vielzahl von Technologien, wie Rasterelektronenmikroskopie (SEM), fokussierter Ionenstrahl (FIB), Laserscribing, Infrarot (IR) -Bildgebung, optische Spektroskopie und Atomkraftmikroskopie (AFM). GIX Microplotter kann extrem hochauflösende Bilder der Oberfläche des Wafermaterials aufnehmen. Dies wird erreicht, indem jeder einzelne Wafer gescannt wird, während zwei Laser gleichzeitig über die Oberfläche scannen. Dies ermöglicht eine präzise Detailgenauigkeit, die notwendig ist, um die Eigenschaften des Wafermaterials genau zu messen. Darüber hinaus ist SONOPLOT GIX Microplotter in der Lage, Flächen von weniger als 10 Mikrometer, so dass die Messung von extrem kleinen Funktionen. Darüber hinaus ist GIX Microplotter mit fortschrittlichen FIB-Fähigkeiten ausgestattet, die das Abscheiden und Entfernen von Material auf der Waferoberfläche ermöglichen. Dies ist ein wichtiges Werkzeug in der Waferprüfung und Messtechnik, da es die genaue Kontrolle der Oberflächenmerkmale für eine genaue Prüfung des Wafermaterials ermöglicht. Darüber hinaus ist SONOPLOT GIX Microplotter in der Lage, Fräs- und Kontaktprüfungen durchzuführen, um elektrische Eigenschaften zu messen. GIX Microplotter wurde auch um ein Softwarepaket erweitert, um Testverfahren zu vereinfachen. Diese GUI-basierte Software bietet eine schöne und einfach zu bedienende Schnittstelle, mit der eine Vielzahl von Parametern eingegeben werden können. Diese Parameter können dann in die Maschine programmiert werden, und die Maschine erfasst die Daten auf der Grundlage dieser Parameter und Richtlinien. Allein diese Funktion vereinfacht die Wafer-Prüfung und Messtechnik erheblich. Insgesamt ist SONOPLOT GIX Microplotter ein hochentwickeltes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das ein beispielloses Maß an Genauigkeit und Präzision bietet. Es ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, die von hochauflösender Bildgebung bis zu FIB-Funktionen reichen, und seine softwaregesteuerte Benutzeroberfläche vereinfacht den Prozess für den Benutzer. Mit GIX Microplotter können Sie sicher sein, dass Sie die Eigenschaften Ihres Wafermaterials genau und zuverlässig messen.