Gebraucht SOUND TECHNOLOGY 1710A #9192601 zu verkaufen

SOUND TECHNOLOGY 1710A Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine fortschrittliche und leistungsstarke Lösung für die Prozesssteuerung und Messtechnik von Halbleiterscheiben. Das System kombiniert einen optischen Hochgeschwindigkeits-Encoder und eine hochmoderne Grafikprozessoreinheit (GPU), um eine genaue und umfassende Datenerfassung, -analyse und -einblicke zu ermöglichen. 1710A liefert hochpräzise und wiederholbare Messungen von Parametern wie kritischen Abmessungen, Linearität, Durchsatzgeschwindigkeit, Waferdicke und anderen relevanten Eigenschaften des Wafers. Das Gerät nutzt eine Winkelauflösung von 2/3 nm für eine verbesserte Genauigkeit. Es verfügt über eine Bewegungssteuerung durch optische absolute Positionskodierungstechnologie, die eine sofortige Erkennung der Position des Wafers in der Maschine ermöglicht und die zeitaufwendige manuelle Einstellung entfällt. Durch das hochgradig konfigurierbare Design des Tools kann es auf die spezifischen Bedürfnisse des Kunden zugeschnitten werden. Es ist mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, die den Asset-Betrieb vereinfacht und seine Effizienz erhöht. Die integrierten statistischen Analysetools bieten umfassende Auswertungen des Wafers und ermöglichen eine intelligente Prozesssteuerung. SOUND TECHNOLOGY 1710A verfügt zudem über ein ausgeklügeltes Wafer-Mapping- und Imaging-Modell, das die genaue Position jedes Features auf dem Wafer sowohl in 2D- als auch in 3D-Formaten anzeigt. Das Wafer-Mapping-Gerät unterstützt Mikroskop, Kamera und Laserbeleuchtung und ermöglicht eine hochpräzise Oberflächentopographiemessung. Darüber hinaus kann das Wafer-Mapping-System konfiguriert werden, um große Variationen der optischen oder elektrischen Eigenschaften über die Oberfläche eines Wafers zu erfassen. Der modulare Aufbau des Geräts macht es flexibel und kann für größere, komplexere Anwendungen erweitert werden. Es verfügt auch über eine integrierte Vielzahl von anpassbaren Datenverwaltungstools, mit denen Benutzer große Datenmengen leicht verschieben und verwalten können. 1710A Wafer Testing and Metrology Machine ist ein leistungsfähiges, genaues und umfassendes Werkzeug zur Prozesssteuerung und Messtechnik von Halbleiterscheiben. Es ist in der Lage, hochgenaue Messungen der Wafergeometrie und Topographie bereitzustellen, die eine präzise und wiederholbare Analyse und Prozesskontrolle ermöglichen. Der modulare Aufbau, die intuitive Benutzeroberfläche, die integrierten Tools zur statistischen Analyse und die Datenverwaltungstools machen es zu einer umfassenden und kostengünstigen Lösung für Wafertests und Messtechnik.