Gebraucht SSM 150 #9101487 zu verkaufen

SSM 150 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik für präzise Messungen komplexer Strukturen auf Halbleiterscheiben. Das System umfasst alle notwendigen Komponenten für die Prüfung und Messtechnik, einschließlich: Probenlift, optisches Mikroskop, Photomaske, Mikroskoplampe, lineare Bewegungsstufe der Optik, Bilderfassungseinheit, Zentriervorrichtung, Videoanzeige, 3D-Tracking-Maschine und Neigungsverstellwerkzeug. Der Probenlift wurde entwickelt, um Wafer-Proben mit einem Durchmesser von bis zu 150 mm zu halten, während das optische Mikroskop ein hochauflösendes Objektiv verwendet, um Klarheit und Präzision bei der Analyse von Proben sicherzustellen. Die Photomaske dient zur genauen Analyse komplexer Bereiche der Waferprobe. Die Mikroskoplampe beleuchtet die Probe, so dass Muster und Merkmale genau zu sehen sind. Die lineare Bewegungsstufe der Optik bewegt die Mikropositionierungsplattform vorwärts und rückwärts, so dass die Probe an die richtige Position für die Analyse angepasst werden kann. Das Bilderfassungsmodell erfasst ein hochauflösendes Bild der Probe, das dann auf dem Videomonitor angezeigt wird. Die Zentriervorrichtung stellt sicher, dass die Probe richtig ausgerichtet ist und sich in der besten Position für die Analyse befindet. Die 3D-Tracking-Ausrüstung zeichnet die Orientierung der Probe an einem beliebigen Ort auf und das Neigungseinstellsystem gibt dem Benutzer die Möglichkeit, die Probe in jede Richtung zu neigen, um eine bessere Bildklarheit zu erzielen. Alle diese Merkmale verbinden sich zu einem umfassenden messtechnischen Werkzeug zur eingehenden Analyse der komplexen Strukturen auf Halbleiterscheiben. Das Gerät bietet die Möglichkeit, Hunderte von mikroskopischen Bildern von Waferproben in extrem hohen Auflösungen zu erfassen, zu analysieren und zu speichern. Die aus diesen Bildern gewonnenen Daten können für eine Vielzahl von Zwecken verwendet werden, von der Qualitätskontrolle bis zur Designoptimierung. 150 Maschine bietet ein genaues und zuverlässiges Werkzeug für die Analyse von Halbleiterscheiben auf einer mikroskopischen und makroskopischen Skala. Sein intuitives Design und sein vielseitiges Leistungsspektrum machen SSM 150 zu einem wertvollen Werkzeug für jedes Wafer-Test- oder Metrologielabor.