Gebraucht SSM 490i #9407979 zu verkaufen

SSM 490i wafer testing and metrology equipment ist ein integriertes Werkzeug zur nichtinvasiven Prüfung und Messtechnik von Halbleiterbauelementen und -materialien. Das System kombiniert optische Messtechnik und COTS-basierte Sensoren, um eine umfassende Analyse von Wafermaterialien mit hoher Präzision und Genauigkeit zur Prüfung der Abmessungen, Beanspruchungen und Eigenschaften jedes Wafers zu ermöglichen. 490i eignet sich für Test- und Messtechnik-Anwendungen von Prozesseffizienzmessungen über Detektorschwellwertprüfungen bis hin zur Materialkennung und -charakterisierung. Das Gerät umfasst eine fortschrittliche optische Messtechnik, die zur Messung und Inspektion von Wafern bei Nanometerauflösungen mit einer Genauigkeit von weniger als einem Nanometer verwendet wird. Diese nanoauflösende messtechnische Messung ermöglicht es Forschern, die Wirkung physikalischer und chemischer Prozesse auf die dünnen Materialschichten des Wafers zu quantifizieren. Zusätzlich kann die Maschine die Beanspruchung der einzelnen dünnen Schichten auf dem Wafer messen. Die COTS-basierten Sensoren von SSM 490i können die kritischen Abmessungen eines Wafers bestimmen; diese nichtinvasive Methode ist sehr vorteilhaft bei der Charakterisierung und Herstellung von hochzuverlässigen, kostengünstigen Geräten. Die erweiterten bildgebenden Funktionen des Tools ermöglichen auch hochauflösende Bildgebung, um Fehler zu erkennen und Prozesserträge zu überwachen. Es kann eine detaillierte Charakterisierung der Oberflächenstruktur und Rauheit eines Wafers über seinen gesamten Durchmesser liefern. 490i ist auf Genauigkeit und Zuverlässigkeit ausgelegt und reduziert die Zeit, die zum Sammeln von Daten erforderlich ist. Dieses Asset nutzt eine automatisierte Datenerfassung, um den Test- und Messvorgang zu vereinfachen und zu beschleunigen, indem schnell auf die Ergebnisse mehrerer Messparameter geschlossen wird. Zusätzlich enthält das Modell einen Substrathalter, mit dem Waferdicken von bis zu 15 Millimetern mit einer Genauigkeit von weniger als fünf Nanometern gemessen werden können. SSM 490i wafer testing and metrology equipment ist ein fortschrittliches Werkzeug für eine Vielzahl von Test- und Messanwendungen. Die optische Messtechnik und die auf COTS- basierenden Sensoren ermöglichen Gerätetests und Materialcharakterisierung mit hoher Präzision, Genauigkeit und Geschwindigkeit. Es ist auf Zuverlässigkeit und Effizienz ausgelegt, um einen qualitativ hochwertigen Prozessertrag zu erzielen und die Markteinführungszeit zu reduzieren.