Gebraucht SSM 495 #293763043 zu verkaufen

SSM 495 Wafer Testing and Metrology Equipment ist eine führende, hochmoderne Lösung für fortschrittliche automatisierte Waferinspektion und Messtechnik. Es bietet eine uSPEC™ Ultra-High Precision Spectral Metrology-Lösung, die eine Hochleistungs-berührungslose, zerstörungsfreie Wafer-Messtechnik bietet. Das System ist ideal für die Messung von Dicke, Oberflächenebene, Qualität und anderen Eigenschaften von Wafern. 495 Einheit ist eine hochkonfigurierbare Plattform mit einer Kombination aus Inspektionswerkzeugen und Messtechnik-Modulen. Die proprietäre uSPEC™ Spectra Metrology-Plattform ermöglicht es Anwendern, Wafer mit hoher Präzision berührungslos und ohne Beschädigung der Waferoberfläche zu messen. Diese fortschrittliche Maschine bietet mehrere Technologien, einschließlich optischer, reflektometrischer, spektraler Reflexion und geringer Kohärenz, um Wafer über eine breite Palette von Lasern und Optik effektiv zu messen. Das optische Inspektionswerkzeug verfügt über hochauflösende Bildgebungs- und Kontrastoptiken zur Inspektion von Wafern und gedruckten Schaltkreisen. Es verfügt über spektrale Bildgebung, kurzwellige Bildgebung und Fast-Infrarot-Wellenleiter-Bildgebung. Das Reflektometermodul wurde entwickelt, um Waferdicke und Oberflächenebene zu messen, so dass Benutzer ihre Produktspezifikationen genau messen können. Dies ist besonders nützlich für Wafer, die in Materialien für integrierte Schaltungen, MEMS und optische Bauelemente verwendet werden. SSM 495-Tool verfügt auch über ein innovatives Scan-Automation-Modul, um die Inspektion Ihrer Probe zu automatisieren, so dass Sie schnell mehrere Proben überprüfen können, ohne manuell eingreifen zu müssen. Das Modul ermöglicht es Benutzern, Tests zu programmieren und auszuführen, Bilder anzuzeigen und Daten zu exportieren. 495 Wafer Testing and Metrology Asset wurde entwickelt, um die Zuverlässigkeit der Wafer-Leistung zu optimieren, sodass Benutzer ihre Produkte schnell und genau überprüfen können. Es ist eine umfassende Lösung für die Waferinspektion und Messtechnik, die zuverlässige Reinigungsfunktionen, präzise Wafermessungen und präzise Testergebnisse liefert.