Gebraucht SSM / SOLID STATE MEASUREMENTS 470i #9412433 zu verkaufen

SSM/SOLID STATE MEASUREMENTS 470i Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein fortschrittliches Werkzeug für messtechnische Tests von integrierten Schaltungen, MEMS-Komponenten und Wafer-Level-Verpackungen. Es kombiniert Subnanometer-Auflösung automatisierte optische, Rasterelektronenmikroskop (SEM) und Mikromanipulationsfähigkeiten mit modernster Mustererkennung und Datenanalysetechnologie. Durch die Kombination dieser Merkmale bietet das System die umfassendste Plattform zur schnellen und genauen Analyse einer Vielzahl von Halbleitermaterialien und -bauelementen. SSM 470i ist mit einem großen Wafer Handhabungsbereich konzipiert, der viele Waferpositionen, Scanbereich und Probenorientierung ermöglicht. Das Gerät ist auch mit einem automatisierten Fokussierelement ausgestattet, das so programmiert werden kann, dass die Proben präzise fokussiert werden und eine Auflösung von Merkmalen bis zu 0,5 Mikrometer ermöglichen. Eine integrierte digitale 7-Megapixel-Farbkamera verbessert die Fähigkeit der Maschine, Daten zu erfassen, während die automatisierte Membranausrichtungsfunktion hilft, genaue Messungen in alle Richtungen sicherzustellen. SOLID STATE MEASUREMENTS 470i ist mit einer Reihe von automatisierten Messwerkzeugen ausgestattet, die präzise Wafermess- und Messtechnik-Operationen ermöglichen. Diese Werkzeuge ermöglichen eine genaue Messung kritischer physikalischer Eigenschaften des Wafers, einschließlich integraler Merkmalsgröße, Oberflächenrauhigkeit, optischer Ebenheit und Elektronenstrahlauflösung. Die Software des Tools umfasst auch fortgeschrittene Algorithmen zur optischen Datenanalyse, die die Rohdaten für präzise berührungslose Höhenmessungen analysieren. Für eine präzise In-Plane-Element-Messtechnik wird 470i asset mit einer Reihe automatisierter Rastersondenmikroskopwerkzeuge ergänzt. Diese Werkzeuge liefern präzise Ergebnisse für eine Vielzahl von 2D-, 3D-und Nanomessungen. Das Modell umfasst auch fortgeschrittene Mustererkennungsalgorithmen, die eine genaue elementare Analyse von Materialproben ermöglichen. Die hochpräzisen optischen und SEM-Messungen von SSM/SOLID STATE MEASUREMENTS 470i geben Anwendern die Möglichkeit, die Leistung kritischer Geräte und Komponenten mit beispielloser Genauigkeit zu analysieren. Durch die Integration fortschrittlicher Mikromanipulationsfunktionen in sein Design trägt die Ausrüstung auch dazu bei, die Genauigkeit von Verpackungen und Sonden auf Waferebene zu verbessern. Zusammenfassend ist SSM 470i Wafer Testing and Metrology System eine fortschrittliche, umfassende Lösung für die genaue und schnelle Analyse von Mikroskala-Eigenschaften von integrierten Schaltungen und anderen Halbleitermaterialien.