Gebraucht TAMAR Waferscan 300 #293636438 zu verkaufen

TAMAR Waferscan 300 ist eine umfassende Wafer-Prüf- und Messtechnik für Produktionsumgebungen. Dieses System bietet eine hohe Präzision und Genauigkeit bei der Messung und Analyse von Halbleiterscheiben. Es verfügt über hochauflösende Abtaststufen, die kleine geometrische Merkmale wie Flossenbreite und Torlänge genau erfassen, sowie hochauflösende optische Systeme zur Inspektion von Gerätemikrostrukturen. Das Gerät verfügt über ein hochzuverlässiges und präzises Laserinterferometer, das präzise Messungen der Oberfläche des Wafers ermöglicht. Durch die Integration mit fortschrittlichen Bildverarbeitungsalgorithmen analysiert und misst es die Topographie einer Waferoberfläche genau. Ein automatisierter Detektionsalgorithmus verbessert die Genauigkeit weiter, indem potentielle Fehler in Messungen oder Datenpunkten durch Laserstreuung der Oberfläche erkannt werden. TAMAR-Maschine nutzt einen motorisierten optischen Zoom, damit Benutzer die Vergrößerung des optischen Werkzeugs schnell anpassen können, um verschiedene Bereiche zu beobachten und zu analysieren. Es verfügt auch über eine hochwertige CCD-Kamera, die Bilder mit einer extrem hohen Genauigkeit aufnimmt. Das Asset umfasst auch einen Mehrzweckmonitor für Benutzer, um die Ergebnisse von Messungen und Bildanalysen zu überprüfen. Waferscan 300 bietet ferner Funktionalität zur Inspektion von i-Linien- und KrF-Folien und ist in der Lage, die Dicke von Geräteschichten zu messen. Darüber hinaus kann das Modell die Dickenmessungen des Photolacks genau analysieren, sodass Benutzer sicherstellen können, dass die Dimensionalität und die Auflösung der Formelemente innerhalb der Toleranz liegen. Ein automatisiertes optisches Ausrichtverfahren bietet Anwendern eine einfache und genaue Möglichkeit, schnell die gewünschte Ausrichtung der Optik des Geräts zu erreichen. Diese Präzisionsausrichtung ist in einer Produktionsumgebung sehr wertvoll, da sie innerhalb kürzester Zeit genaue Ergebnisse gewährleistet. Das System kann auch die Ebenheit einer Waferoberfläche messen, so dass Benutzer mögliche Probleme, die die Qualität von Geräten beeinflussen, genau identifizieren und beheben können. Schließlich bietet die Einheit eine Reihe von Datenanalysetools und Berichtsfunktionen, mit denen Benutzer statistische Daten schnell extrahieren und schnell fundierte Entscheidungen treffen können.