Gebraucht TAYLOR HOBSON Surtronic 3 CPO #9012955 zu verkaufen

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ID: 9012955
Profilometer Parameters: Ra Traverse speeds: 1mm/s for measurement, 0.25mm/s for recording Measurement ranges: 0-9.99 and 0-25μm, 0-999 μin Ra Readout: Digital; liquid crystal display cut-off values: 0.25, 0.8, 2.5 mm (0.01, 0.03, 0.1 inch) 0.8mm(0.03inch) over the full 25mm (0.98inch) traverse Height of digits: approx. 6.5mm (0.25 inches) Standard traverse lengths: Nominally 5X selected cut off + 0.5mm i.e. 1.75, 4.5, 13mm Display: Four digits, decimal ("E") and measuring sign (---) Output for recording: 10mV/μm on 99.9μm range 100mV/μm on 9.99μm range 1mV/μin on 999μin range Minimum load impedance for recorder output: 10k *Overall accuracy of Ry (RmaxDIN) & Rtm (RzDIN) measurement: To within 2% of reading +/- 1 unit in the least significant decimal.
TAYLOR HOBSON Surtronic 3 CPO ist eine automatisierte 3D-Oberflächenprüf- und messtechnische Ausrüstung, die entwickelt wurde, um Waferoberflächen genau zu messen und zu inspizieren. Dieses System ist ein Gantry-basierter, CNC-gesteuerter Oberflächenprofiler, der Kapazitätsverschiebungssensoren für den manuellen und automatisierten Betrieb verwendet. Sie ist speziell für Forschungs-, Entwicklungs- und Produktionslabore konzipiert. Die wichtigsten Hardwarekomponenten von Surtronic 3 CPO bestehen aus linearer Wegmesseinheit, variabler Drehzahlabtastung, 1.250mm x 1.250mm Stufe (d.h. Traversenfläche) und 1.200mm Höhe des z-Achsen-Weges. Es verfügt auch über eine 1-Achsen, 3-Achsen und 5-Achsen automatische Fähigkeit zur Ausrichtung und Wiederholbarkeit von Proben. Ferner ist ein integrierter Stufencodierer und eine bewegliche LED-Lichtquelle zur Messwiederholbarkeit und zur verbesserten Merkmalsprüfung ausgerüstet. Die beispielspezifischen Anzeigen ermöglichen es Benutzern, das Flächenprofil und kritische KE-Informationen sowie andere Flächeneigenschaften wie Planheit, Stoßhöhe, Wellung und Wellenlänge anzuzeigen. TAYLOR HOBSON Surtronic 3 CPO ist in der Lage, durch Profile, Oberflächenscans oder Wafermessungen in X-, Y-, Z-Achsenrichtung zu messen. Darüber hinaus kann die Maschine den gesamten Oberflächenformfehler (TSFE) oder Total Runout (TIR) messen und die Ergebnisse in einem Layout von 2D-Graphen oder 3D-Oberflächenzuordnung anzeigen. Die fortschrittliche Software von Surtronic 3 CPO erleichtert auch automatisierte Berichterstattung und Datenanalyse, so dass es ideal für Forschung, Produktion und Qualitätssicherung Anwendungen. In Bezug auf den Betrieb hat TAYLOR HOBSON Surtronic 3 CPO eine hohe Präzision lineare Genauigkeit von bis zu 15 μ m und ist in der Lage, mit verschiedenen Proben- und Sondeneinstellungen zu arbeiten. Darüber hinaus ist ein hochauflösender, mehrkanaliger Laserlinientriangulationssensor integriert und arbeitet in Kombination mit einem patentierten technologischen Linienabtastansatz zur Messung von Oberflächenmerkmalen mit sehr hoher Genauigkeit. Um einen verbesserten Umweltschutz zu gewährleisten, verwendet Surtronic 3 CPO eine versiegelte, trockene Messkammer und einen kontinuierlichen Rückkopplungssteuermechanismus, um die axiale Luftfeuchtigkeit und das Temperaturniveau aufrechtzuerhalten. Insgesamt ist TAYLOR HOBSON Surtronic 3 CPO gut geeignet für Wafertests und messtechnische Operationen in Forschung, Entwicklung und Fertigung. Dieses Tool ist gut ausgestattet mit einer umfangreichen Palette von Funktionalitäten, ermöglicht einfache Einrichtung und genaue Messungen mit Wiederholbarkeit und Zuverlässigkeit.
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