Gebraucht TAYLOR HOBSON Surtronic 3P CPO #9012791 zu verkaufen

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ID: 9012791
Profilometer Parameters: Ra, Rymax, (RmaxDIN) and RTM (RzDIN). Traverse speeds: 1mm/s for measurement, 0.25mm/s for recording Measurement ranges: Ra 0-999.99 and 0-99.99μm, 0-9999 μin Readout: Digital; liquid crystal display cut-off values: traverse (an accessory is available to vary the traverse length on the 0.8mm length on the 0.8mm long stroke cut-off). Height of digits: approx. 0.25 inches Standard traverse lengths: Nominally 5X selected cut off + 0.5mm i.e. 1.75, 4.5, 13mm Display: Four digits, decima ("E") and measuring sign (---) Output for recording: 100mV/μm on 99.9μm range 100mV/μm on 9.99μm range Minimum load impedance for recorder output: 10k *Overall accuracy of Ry (RmaxDIN) & Rtm (RzDIN) measurement: To within 2% of reading +/- 1 unit in te least significant decimal.
TAYLOR HOBSON Surtronic 3P CPO (Coordinate Measuring Point) ist eine Weltklasse-Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die weltweit in Halbleiterherstellungsanlagen und Laboratorien eingesetzt wird. Es wurde entwickelt, um die physikalischen Eigenschaften von Wafern mit Sub-Nanometer-Auflösung zu messen und Echtzeit-Inline-Ergebnisse mit ausgezeichneter Wiederholbarkeit und Genauigkeit zu liefern. Das System verwendet Stift- und Laserstiftsonden, um die Ebenheit, geometrische Abmessungen, kritische Bemaßung und Oberflächenrauhigkeit der Wafer zu beurteilen. Es verwendet eine Dreipunkt-Kontakteinheit für genaue und wiederholbare Messungen. Der Kontakt wird über eine Skalenrückkopplungsmaschine, die von der Bewegungssteuerungselektronik verwaltet wird, exakt positioniert, und das Werkzeug erkennt jede Variation der Waferform mit einem anderen Sondentyp. Die Anlage überwacht auch den kritischen Winkel der Wafer und ist damit ideal für fortgeschrittene Halbleiterproduktionsprozesse, die eine engmaschige Kontrolle von Winkeln und Formen erfordern. Es ist mit einem automatisierten Vision-Modell für eine einfache und genaue Ausrichtung der Sonden auf den Wafer ausgestattet, wodurch der Aufbau und die Messung komplexer Strukturen schnell und effizient erfolgen. Die Daten aus den Messvorgängen können sowohl zur Analyse als auch zur Rückverfolgbarkeit innerhalb der Geräte gespeichert, verwaltet und gemeldet werden. Mit der flexiblen Software-Suite von Surtronic 3P CPO können auch individuelle Programme und Algorithmen geschrieben werden, um die Messungen an die individuellen Bedürfnisse des Benutzers anzupassen. TAYLOR HOBSON bietet exzellenten Kundenservice und Support, um sicherzustellen, dass alle Benutzer den maximalen Nutzen der TAYLOR HOBSON Surtronic 3P CPO-Technologie erhalten. Es bietet auch technische Schulungen für die Benutzer, um sicherzustellen, dass sie in der Lage sind, die gesamte Palette der Funktionen des Systems zu nutzen und die Vorteile seiner messtechnischen Fähigkeiten zu nutzen.
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