Gebraucht TAYLOR HOBSON TalyStep #9048083 zu verkaufen

TAYLOR HOBSON TalysStep ist eine leistungsstarke und anspruchsvolle Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die Spitzentechnologien mit einer einzigartigen Palette von Funktionen kombiniert, um eine effektive Lösung für Wafertests und messtechnische Anforderungen zu bieten. Dieses System bietet eine umfassende Qualitätskontrolllösung, die optische, elektrische und mechanische Eigenschaften im gesamten Wafer umfasst. Es wurde entwickelt, um schnelle und genaue Ergebnisse zu liefern und die manuelle Arbeit durch Automatisierung von Wafertests und Messtests zu reduzieren. Die TalysStep-Einheit arbeitet auf einer PCI Express 3.0-Schnittstelle und nutzt eine Vielzahl von Technologien, darunter DDF (Digital Deflection Frame) zur Bildausrichtung und Bewegungssteuerung für stark automatisierte Prozesse. Es verwendet auch eine Vielzahl von fortschrittlichen Sensoren, wie das DDF (Digital Deflection Frame) für die Bildausrichtung, das EDLT (Edgeline Distortion Lens Tool) für die Messung von Kantenverzerrungen, eine Digitalkamera für Farb- und Kontrastprüfung, In-Line-Film Dickenmapping und Infrarot (IR R R) und Raureman Spectscopy. Die TalysStep-Maschine enthält eine Reihe neuer Funktionen, die speziell für Wafertests und Messtechnik entwickelt wurden. Dazu gehört das ADtN-KE (Ability to Define Multiple Tool Nests), das die Anpassung von Werkzeugsätzen für bestimmte Baugruppen ermöglicht. Das TalysStep-Tool bietet darüber hinaus eine fortschrittliche Bildsensorstufe (ISS) zur präzisen Werkzeugausrichtung und ein AFC-Asset (Automatic Focal Plane Calibration) zur Feinkalibrierung einer Waferoberflächeninspektion. Darüber hinaus ermöglicht der modulare Aufbau eine schnelle und präzise Anpassung der Wafer-Prüf- und Messparameter während der Produktion. Das TalysStep-Modell ermöglicht Parallelität bei der Auswertung und Messung von Wafern mit mehreren Sensoren, die bei der gleichzeitigen Datenerfassung verwendet werden. Diese Ausrüstung ist auch in der Lage, umfassende Informationen über die Qualität von Siliziumwafern und die Erkennung von Fehlern zu liefern. Es ist mit rauscharmen Verstärkern ausgestattet, um genaue und zuverlässige Daten zu gewährleisten, und ist auch in der Lage, die In-Line-Foliendicke zu überwachen, da die Materialschicht Auswirkungen auf die Waferleistung haben kann. Das TalysStep-System ist ideal für eine Vielzahl verschiedener Wafer-Prüf- und Messtechnik-Anwendungen. Es bietet eine flexible Lösung für Wafer-Mapping, Frequenztests, Sägetests und Genauigkeitstests. Die TalysStep-Einheit eignet sich auch für verschiedene Wafer-Designs, wie zum Beispiel für Mobiltelefone und andere Telekommunikationsgeräte, bildgebende und mikroprozessorische Substrate, Supercomputer und andere Komponenten und Baugruppen der Luft- und Raumfahrt sowie der Automobilindustrie. Zusammengefasst bietet TAYLOR HOBSON TalyStep eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die eine hohe Qualitätskontrolle und Genauigkeit für eine Reihe von Anwendungen bietet. Es ist auf schnelle und genaue Ergebnisse ausgelegt und reduziert die manuelle Arbeit durch Automatisierung von Wafertests und Messtests. Es bietet eine breite Palette von Funktionen und Technologien und ist ideal für eine Vielzahl von verschiedenen Wafer-Tests und messtechnischen Anwendungen.