Gebraucht TECHNOS SMAT-200 #293642840 zu verkaufen

TECHNOS SMAT-200 ist eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für die Messung der Dicke und Ebenheit von Halbleiterscheiben entwickelt wurde. Dieses System kombiniert fortschrittliche Bildgebungs- und Scantechniken mit optischer Messtechnik am Flugzeug für schnelle und genaue Messungen. Es verfügt über eine hochmoderne Bildaufnahmeeinheit, die hochauflösende Bilder von Wafern mit einer Dicke von bis zu 25 Mikrometern aufnehmen kann. Die Hochgeschwindigkeitskamera und der Scankopf haben eine Vergrößerung von bis zu 800x und einen Dynamikbereich von bis zu 800: 1. Darüber hinaus verfügt SMAT-200 über einen hochpräzisen Abtastschlitz, einen CCD-Array-Sensor und eine fokussierte Laserdiode, die eine ausgezeichnete Präzision und Genauigkeit der Messung ermöglicht. Die Maschine nutzt optische und Lasermesstechnologien, um Profil, Bogen und Kette von Waferoberflächen mit höchster Genauigkeit zu messen. Das Tool bietet eine verbesserte Datenabtastung und -auflösung mit Bereichen bis 6 Mikrometer bzw. bis zu 0,1 Mikrometer. Es verfügt auch über fortschrittliche Algorithmen zur automatischen Berechnung von Wafer-Verzug, Bogen und Ebenheit, die eine optimale Charakterisierung der Oberflächentopographie ermöglichen. Darüber hinaus umfasst das Asset eine Datenaufzeichnungs- und Analysefunktion, mit der Benutzer die Ergebnisse ihrer Messungen analysieren können. TECHNOS SMAT-200 bietet mehrere erweiterte Funktionen, wie schnelle Kantenerkennung, Auflösungsverbesserung und automatisierte Drift-Kompensation. Dadurch wird sichergestellt, dass das Modell auch unter rauen Betriebsbedingungen präzise Messungen vornehmen kann. Darüber hinaus verfügt es über eine umfassende Bibliothek von Messtechniken für eine breite Palette von Wafer-Messtechnik-Anwendungen. All diese Merkmale machen SMAT-200 zu einer idealen Wahl für Halbleiterhersteller und Produktionsanlagen, die nach einer effizienten und zuverlässigen Wafer-Prüf- und Messtechnik suchen.