Gebraucht TESA 50 Plus #9399560 zu verkaufen

TESA 50 Plus
ID: 9399560
Measuring system.
TESA 50 Plus ist eine automatisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine fortschrittliche Wafer-Charakterisierung ermöglicht. Es ist eine leistungsstarke, kostengünstige Lösung für Halbleiterhersteller, integrierte Gerätehersteller (IDMs) und Testhäuser, die fortschrittliche Wafer bewerten und die härtesten Anforderungen der Branche erfüllen müssen. 50 Plus ist ein eigenständiges System, das für die Prüfung und Charakterisierung von Wafern optimiert ist. Es besteht aus einer intelligenten optischen Messtechnik, einer ausgeklügelten Bildverarbeitungstechnologie und einer fortschrittlichen Prüfsondenstation. Die Prüfsondenstation besteht aus einer maßgeschneiderten Plattform mit hochpräzisen Motoren, Sensoren und Reglern für automatisierte Wafer-Sondierung und Testbetrieb. Es unterstützt bis zu 50 Testköpfe mit fortschrittlicher Kraft- und Temperaturmessung für genaue, wiederholbare Tests. Die intelligente optische Messtechnik-Maschine ist für die Messtechnik und Charakterisierung fortschrittlicher Wafer konzipiert. Es bietet eine Reihe fortschrittlicher Bildgebungs-, Probenahme- und Messfähigkeiten mit patentierter TIR-Bildgebungstechnologie (Total Internal Reflection). Das Tool wurde für einen schnellen Durchsatz mit automatisierter Bildnaht, Funktionsanalyse und 2D/3D-Charakterisierung entwickelt und bietet eine Genauigkeit von bis zu 2 Mikrometern. Die ausgeklügelte Bildverarbeitungstechnologie fördert die Möglichkeiten der optischen Messtechnik und unterstützt mehrfache parametrische Datenvisualisierung, -analyse und -berichterstattung. Darüber hinaus bietet TESA 50 Plus erweiterte Datenerfassungs-, Software- und Datenanalysefunktionen. Es kann bis zu 24 Parameter gleichzeitig erfassen und unterstützt erweiterte Wafertest- und Charakterisierungsanwendungen wie Zuverlässigkeitstests, Stanzzählungen oder Reverse Engineering. 50 Plus ist ein robustes, vielseitiges und benutzerfreundliches Test- und Charakterisierungsmodell, das den Anforderungen von IC-Herstellern entspricht, die schnelle, genaue und wiederholbare Testergebnisse benötigen. Seine erweiterte Funktionalität und Flexibilität machen es zu einer idealen Lösung für jeden Halbleitergerätehersteller oder Testhaus.
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