Gebraucht TESA Micro-Hite #9182288 zu verkaufen

TESA Micro-Hite ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für hohe Genauigkeit und hohe Durchsatzmessungen von Silizium-Wafern entwickelt wurde. Es verwendet eine mehrachsige 3D-Bühne, um Wafer in den XYZ-Achsen genau und genau zu messen. Das integrierte Mikroskop liefert vergrößerte Bilder der Waferoberfläche für genaue Messungen, während der Laser-Scannerkopf schnelle und hochpräzise Messungen jedes 3D-Profils ermöglicht. Micro-Hite-System wird durch eine leistungsstarke TESA-Software-Suite angetrieben, die eine schnelle, automatisierte Erfassung, Analyse und Berichtsgenerierung von Waferoberflächen ermöglicht. Die intuitive Benutzeroberfläche und die automatisierte Datenerfassung ermöglichen einen effizienten Betrieb des Geräts, was die Genauigkeit und den Durchsatz der Wafertests verbessert. TESA-Software kann auch eine Reihe von Dateitypen ausgeben, einschließlich Rezepte, CAMP, MAP, SCAPE und CAD-Formate, die Kompatibilität mit verschiedenen Metrologie-Datenbanken und -Formaten ermöglichen. Die Maschine umfasst auch eine kalibrierte Stufe, die zur Messung von Wafern mit größerer Genauigkeit konzipiert wurde und somit ideal für die hohen Anforderungen an die Prozessentwicklung und Fehleranalyse ist. Die duale Messtechnik des Werkzeugs kombiniert kontaktlose und berührungslose Methoden für verbesserte Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Die Anlage ist vielseitig einsetzbar und kann nicht nur Siliziumwafer, sondern auch Werkstoffcharakterisierung, Nanoproduktion, MOEMS und Opto-elektronische Gerätetests messen. Für hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit ist TESA Micro-Hite mit einer programmierbaren, temperaturgesteuerten Stufe ausgestattet. Dadurch wird sichergestellt, dass Messungen in einer streng kontrollierten Umgebung mit den erforderlichen Temperaturbereichen und Einstellungen für jede Messung je nach Material und Anwendung durchgeführt werden können. Neben dem Wafertest und der Messtechnik kann Micro-Hite auch zur Prozessentwicklung und Qualitätsüberprüfung eingesetzt werden. Das Modell ist hochgradig anpassbar und kann mit einer Reihe von Optionen auf die Kundenbedürfnisse zugeschnitten werden, von automatisierter Bildgebung, automatisierter Probenvorbereitung, Stufenvibrationsisolierung und zusätzlicher Scangeschwindigkeit. TESA Micro-Hite basiert auf einem ergonomischen Design für Benutzerfreundlichkeit, wobei auch die neuesten Sicherheitsstandards und die höchsten Qualitätsstandards in Fertigungsprozessen berücksichtigt werden. Es ist kompakt, robust und leicht transportierbar für kostengünstige Lösungen. Seine langlebige Konstruktion wurde entwickelt, um die Strenge moderner Waferbearbeitungs- und Einrichtungsanforderungen zu bewältigen und ist damit die ideale Lösung für Wafertests und Messtechnik.