Gebraucht TFM TFM-100 #9252380 zu verkaufen

TFM TFM-100
ID: 9252380
Coating and thin film thickness analyzer ​Thickness range: 0.5 - 100 um Wavelength range: 350 - 1,050 nm Spot size: Approximately 4 mm Repeatability (x10): < ±0.001 um at 1 um SiO2 on Si wafer Light source: Tungsten halogen 1-6 W Sample stage: 20 x 20 cm Dimensions: Detector: 22 x 22 x 7 cm Light source: 12 x 17 x 5 cm Scope: 20 x 20 x 17 cm Power supply: 12 V, 1 A.
TFM TFM-100 ist eine Roboterscheibentest- und messtechnische Ausrüstung, die von der TFM Corporation entworfen und hergestellt wurde. Das System ist in der Lage, physikalische Attribute von Halbleiterscheiben, wie Abmessungen und Radien planarer und sphärischer Oberflächen, sowie andere Parameter wie ortsspezifische Defektivität effizient zu messen und zu analysieren. TFM-100 besteht aus drei Hauptkomponenten - Mainframe, Inspektionskopf und Software. Der Großrechner steht 44 Zoll groß und ist aus Aluminium und Kunststoffverbund gefertigt. Die rahmenlose, kompakte Bauweise unterstützt die sichere Unterbringung der internen Komponenten des Geräts. Die Inspektionskopfeinheit ist ein zweidimensionaler, lufttragender Encoder mit einer Auflösung von 10 Nanometern, der eine schnelle vibrationsfreie Abtastung ermöglicht. Darüber hinaus arbeitet die Maschine sowohl im manuellen als auch im automatischen Modus, wodurch Benutzer die Funktionalität und Genauigkeit entsprechend anpassen können. Das Tool kommt auch mit mehreren Software-Optionen. Die Inspection Software Suite hat über 40 verschiedene Anwendungen, wobei jede Anwendung auf die Messung und Analyse der entsprechenden physikalischen Attribute und Defekte für eine detaillierte Analyse des Wafers spezialisiert ist. Die Suite verfügt auch über einzigartige Testfunktionen wie Fehlererkennung, Doppelplotung und benutzerdefinierte Alarme, mit denen Benutzer potenzielle Probleme schnell und genau erkennen können. Darüber hinaus nutzt TFM TFM-100 einen ZAxis 2000 Controller und optimiert ihn mit einem Hochgeschwindigkeits-Mustergenerator- TMS-146. Mit dieser Kombination können TFM-100 schnell verschiedene Materialien analysieren und geometrische Formen genau messen. Die Anlage benötigt keine sperrigen Wege und Messgeräte, da sie direkt auf der mechanischen Bank montiert ist und wertvolle Ressourcen und Platz spart. TFM- TFM-100 können auch für mehrere Wafertests verwendet werden, da der Mainframe bis zu fünf Wafer aufnehmen kann, die schnell gescannt und analysiert werden können. Darüber hinaus ist das Modell mit mehreren Funktionen ausgestattet, um sowohl die Ausrüstung als auch den Wafer vor möglichen Schäden zu schützen. Es ist auch mit Fehlererkennung und Diagnosefunktionen ausgestattet, so dass Benutzer alle möglichen Probleme schnell und effektiv lösen können. TFM-100 bietet effiziente und zuverlässige Werte, wie sie in Laboren auf der ganzen Welt getestet und inspiziert wurden. Aufgrund seiner Genauigkeit, Zuverlässigkeit und robusten Konstruktion ist TFM TFM-100 eine ideale Lösung für die Messung und Analyse von Wafern.
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