Gebraucht THERMA-WAVE OPTIPROBE 5220I #9171337 zu verkaufen

THERMA-WAVE OPTIPROBE 5220I
ID: 9171337
Film thickness measurement system.
THERMA-WAVE OPTIPROBE 5220I ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die Spitzentechnologien wie Thermographie, optische Bildgebung, Reflektometrie und Oberflächenkapazität kombiniert, um Wafereigenschaften genau und schnell zu messen. Dieses System liefert zuverlässige Messungen der Flachheit, Gleichmäßigkeit, Dicke, Reflektivität, Topographie und Kapazität von Wafern, die alle wesentlichen Faktoren in einem Chip-Herstellungsprozess sind. OPTIPROBE 5220I ist ein hochpräzises Multifunktionsgerät, das schnelle Messungen dünner und dicker Wafer ermöglicht. Mit seiner Multi-Koordinaten-Motorsteuerung misst diese Maschine sowohl dünne als auch dicke Wafer bis zu einer Präzision von 1 Mikron genau. Darüber hinaus bietet das hochauflösende optische Mikroskopie-Tool dreidimensionale Bilder, so dass Benutzer topographische und optische Eigenschaften mit Genauigkeit anzeigen und analysieren können. Die Anlage verfügt auch über THERMA-WAVE patentierte Thermographie-Modell, das Infrarot-Bildgebung und Technologie verwendet, um thermische Datenpunkte auf Wafern und Chips zu erfassen. Diese Daten werden verwendet, um thermische Eigenschaften wie Flächenebene, Variation und Ausdünnung genau zu messen. Diese Ausrüstung ermöglicht auch die Profilierung sowohl thermisch oder optisch induzierter Merkmale als auch die Erkennung von Mikrofehlern. THERMA-WAVE OPTIPROBE 5220I ist ein komplettes System mit Höchstleistung und Genauigkeit. Es umfasst Schnellwechselmodule für schnelle Kalibrierung, präzise Wafer-Futtersteuerung und automatische Dickenanpassung sowie eine Datenerfassungseinheit mit mehreren Berichtsformaten zur Dokumentation von Schlüsselmessungen. OPTIPROBE 5220I ist mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten die ideale Lösung zum Testen und Analysieren von Wafereigenschaften. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte Software der Maschine eine einfache Bedienung, sodass Benutzer schnell auf die für ihren Prozess benötigten Daten zugreifen können. Dieses Tool ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug, um konsistente und überlegene Ergebnisse in der Wafer-Prüfung und Messtechnik zu erzielen.
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