Gebraucht THERMA-WAVE Optiprobe 5220I #9284334 zu verkaufen

THERMA-WAVE Optiprobe 5220I ist eine einzigartige Ausrüstung für Wafertests und Messtechnik. Dieses leistungsstarke System verwendet eine fortschrittliche Infrarot-Bildgebungstechnik, um ein beispielloses Maß an Genauigkeit und Zuverlässigkeit bei Wafertests zu bieten. Mit fortschrittlicher thermographischer Pulsbildtechnologie hat Optiprobe 5220I die Fähigkeit, kritische Parameter der physikalischen Struktur von Halbleiterscheiben zu überprüfen und zu messen. THERMA-WAVE Optiprobe 5220I verwendet eine hochauflösende Infrarot-Bildgebungseinheit, die über dem zu testenden Wafer montiert ist und unterirdische Defekte und Anomalien misst. Die Sensoren der Optiprobe messen die vom Objekt abgegebene Wärmemenge und erzeugen ein Bild, das zur Qualitätssicherung analysiert werden kann. Dieses Bild liefert dem Benutzer eine vollständige Abbildung der Struktur des Wafers, mit der dann Fehler oder Merkmale identifiziert werden können, die mit Ertragsverlust oder anderen Problemen verbunden sein können. Die Maschine ist benutzerfreundlich und verfügt über leicht zugängliche Menüs und eine intuitive Benutzeroberfläche, die eine schnelle Navigation und Einrichtung von Wafertests ermöglicht. Dieser hochmoderne Wafer-Tester verfügt über mehrere weitere Merkmale, die ihn für die Qualitätssicherung von Wafern gut geeignet machen. Dazu gehören automatisierte optische Charakterisierung, fortschrittliche softwarebasierte Analysetools, Echtzeitdiagnosen zur In-Fab-Charakterisierung, Vor-Ort Thermal Imaging zur Wafer-Charakterisierung und eine präzise Oberflächentemperaturregelung des Wafers. Darüber hinaus ist die Optiprobe mit optionalen Zusatzfunktionen wie automatischem Probenladen zur schnellen Charakterisierung und fortschrittlichen Bildanalysetechniken erhältlich, um die Genauigkeit der Tester weiter zu verbessern. Bei der Prüfung der Parameter von Wafern ist Optiprobe 5220I das perfekte Werkzeug, um höchste Produktionsqualität zu gewährleisten. Die Optiprobe misst und identifiziert unterirdische Defekte genau, sodass Benutzer die Ursachen für Ertragsverluste erkennen können, bevor Produkte ihren Zielverbraucher erreichen. Die Anlage ermöglicht eine schnelle Wafer-Charakterisierung und liefert ein zuverlässiges Ergebnis, wodurch sie die ideale Wahl für Serienanlagen ist und die Produktion von Wafern bester Qualität gewährleistet.