Gebraucht THERMA-WAVE Therma-Probe 420 #9161276 zu verkaufen

THERMA-WAVE Therma-Probe 420 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine Vielzahl von Halbleitermaterialien inspizieren und charakterisieren kann. Es bietet eine überlegene Kontrolle der Wafertemperatur sowie dielektrische, optische und elektrische Testergebnisse. Das System verwendet eine thermopile Temperatursonde, die schnelle thermische Ansprechzeiten bietet und die Genauigkeit und Wiederholbarkeit der Temperaturmessungen von Waferoberflächen gewährleistet. Das in der Therma-Sonde 420 verwendete Thermopile ist das größte auf dem Markt und bietet eine schnelle und genaue zwei Dutzend Messwerte pro Sekunde auf dem Kontaktsensor. Diese Daten werden verwendet, um Temperaturprofile von Wafern und anderen Objekten zu erzeugen. THERMA-WAVE Therma-Probe 420 bietet auch verschiedene elektrische Leistungstests, Mess- und Charakterisierungsgeräte mit entsprechenden HF-Parametern wie Widerstand, Kapazität, Impedanz und Induktivität. Mit seiner zweikanaligen DC-Plattform können DC-Tests mit niedriger und hoher Leistung gleichzeitig und unabhängig durchgeführt werden. Zum besseren Verständnis des Geräteverhaltens sowie der Packungswechselwirkung kann das Gerät auch thermische Analysen und Schaltungssimulationen auf Transistorebene durchführen. Die Maschine enthält eine breite Palette von optischen Testfunktionen, einschließlich tiefgehender automatischer und manueller Fehlererkennung, Wafer-Mapping und Partikelanalyse. Darüber hinaus bietet das Tool Umweltkontrolle und Wiederholbarkeit, die für eine genaue und zuverlässige Prozessentwicklung und -qualifizierung erforderlich sind. Schließlich wurde Therma-Probe 420 getestet, um alle relevanten EMI/EMV-Anforderungen zu erfüllen. THERMA-WAVE Therma-Probe 420 ist in der Lage, zuverlässige, wiederholbare Ergebnisse für die Geräteentwicklung, Charakterisierung und Prozessoptimierung über eine Reihe von Halbleitermaterialien zu liefern. Therma-Probe 420 verfügt aufgrund seiner thermopilen, optischen und elektrischen Testfähigkeiten über die Eperformance und Flexibilität, um alle Anforderungen an Wafertests, Messtechnik und Prozessentwicklung zu erfüllen.