Gebraucht THERMA-WAVE TP 3300 #9105606 zu verkaufen

THERMA-WAVE TP 3300 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die schnelle, zuverlässige physikalische Inspektionen und Ertragsanalysen für Hersteller von fortschrittlichen Halbleitern und MEMS-Bauelementen bietet. Das System verwendet Infrarot-Wärmebilder, um physikalische Defekte zu charakterisieren, die nicht durch herkömmliche optische Verfahren aufgedeckt werden können. Das Gerät setzt auf einen voll ausgestatteten 600 x 600 Pixel Array Detektor, der einen hervorragenden thermischen Kontrast bietet. Der Detektor ist mit der Abbildungsoptik in einem nahezu optimalen Spektralbereich für verschiedenste Wafermaterialien und Dicken synchronisiert. Das Gerät verfügt außerdem über einen fortschrittlichen Verarbeitungscomputer und eine automatisierte Steuerungssoftware zur schnellen und zuverlässigen Prüfung von gemusterten Wafern. Die hochauflösenden Bildgebungsfunktionen des TP 3300 werden durch erweiterte Fehlerortungsfunktionen und Fehlerauthentifizierung ergänzt, um sicherzustellen, dass jeder Wafer genau und gründlich überprüft wird. Die Wärmebildgebung des Geräts reduziert auch die thermischen Gradienten zwischen Hot Spots auf dem Wafer und erübrigt die manuelle Temperaturanpassung. Darüber hinaus verfügt das Gerät über eine „One-Touch“ -Funktionalität zur einfachen Einrichtung und Waferanalyse. Die integrierte Maschine beinhaltet auch ein austauschbares Testkopfdesign, das optimierte Prozessgeschwindigkeiten und einfachere Rekonfigurationen und Upgrades ermöglicht. Schließlich verfügt das Werkzeug über ein ergonomisches Design mit einfachen manuellen Überschreibungsoptionen für manuelle Tests. Die Testfunktionen des THERMA-WAVE TP 3300 sind für viele verschiedene Wafertypen und Prozessumgebungen geeignet. Es ist kompatibel mit branchenüblichen Wafermaterialien wie sili-con, GaAs und SOI-Wafern und hat auch die Fähigkeit, Fehler auf Saphir-, GaN- und Metallstapelsubstraten zu erkennen. Die Anlage ist zudem nach dem internationalen SEMI-Standard für erweiterte Wafertests zertifiziert und mit vielen führenden Messtechnikwerkzeugen kompatibel. Insgesamt ist das Wafer-Test- und Metrologiemodell TP 3300 eine ideale Lösung für fortgeschrittene Halbleiter- und MEMS-Gerätehersteller. Seine automatisierten optischen und thermischen Bildgebungsfunktionen bieten schnellere, zuverlässigere Wafer-Inspektionen als manuelle Methoden, und seine intuitive Benutzeroberfläche und das Testkopfdesign machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für Produktions- und Forschungsumgebungen.