Gebraucht THERMA-WAVE TP 400 #9299958 zu verkaufen

THERMA-WAVE TP 400 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein leistungsfähiges und fortschrittliches feldfähiges System, das für dynamische Tests in Wafer-Produktions- und Forschungsumgebungen entwickelt wurde. Der Tester bietet mit seinem automatisierten Testprogrammassistenten hochpräzise, zerstörungsfreie Wafertests an. Das Gerät ist in der Lage, die zyklische Temperaturgenauigkeit von Wafern sowie hybride Parameter nach Bestellung zu testen, was es zu einem unschätzbaren Werkzeug für Forschung und Qualitätskontrollsysteme macht. Die Maschine wurde entwickelt, um elektrische, thermische und mechanische Probleme in Wafern zu überprüfen und bietet Anwendern hohe Empfindlichkeitsmessungen und breite Temperaturbereiche für die Prüfung. Es ist auch in der Lage, Parameter im Zusammenhang mit den physikalischen Eigenschaften der Oberfläche des Wafers zu prüfen, wie die mittlere Waferdicke, die ideale Grenzflächentemperatur zwischen dem Wafer und der Prüfsonde und die Kraft-Tragfähigkeit des Wafers. THERMA-WAVE TP400 Wafer Testing and Metrology Tool ist mit einem hochauflösenden Flüssigkristalldisplay für einfache Auslesungen und einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, die die Bedienung vereinfacht und es Anwendern ermöglicht, schnell Tests einzurichten. Das Asset ist für den Betrieb im Einzel- oder Mehrfachwafermodus mit bis zu 128 Zündungen pro Wafer ausgelegt. Die bereitgestellte PC-basierte Software ermöglicht eine schnelle Testprogrammierung und Datenerfassung. TP 400 Wafer Testing and Metrology Model verfügt auch über einen erweiterten Temperaturbereich - es kann Tests von -40 ° C bis + 400 ° C in Schritten von 0,1 ° C durchführen, und Benutzer können aus drei verschiedenen programmierbaren Heizraten wählen: 1, 3 oder 5 ° C/min. Darüber hinaus machen eine Vielzahl von Zusatzfunktionen die Ausrüstung sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen attraktiv. Dazu gehören umfassende Datenerfassung und -berichterstattung, Laserstrahl-Scanning mit geschlossener Schleife und eine breite Palette von Analysetechniken. Insgesamt ist TP400 Wafer Testing and Metrology System eine ideale Einheit für fortgeschrittene Wafer-Tests und -Messungen sowohl in der Forschung als auch in der Produktion. Die umfassenden Analysefunktionen, die benutzerfreundliche Oberfläche und das umfassende Leistungsspektrum machen es ideal für Forschungs-, Entwicklungs- und Qualitätskontrollsysteme.