Gebraucht TOHO TECHNOLOGY FLX 2320-S #293655605 zu verkaufen

TOHO TECHNOLOGY FLX 2320-S
ID: 293655605
Flim thickness measurement system.
TOHO TECHNOLOGY FLX 2320-S ist ein hochwertiges Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das Anwendern schnelle, präzise Messungen und überlegene Leistung bietet. Es eignet sich am besten für Anwendungen, die hohe Messgenauigkeit erfordern, einschließlich fortschrittlicher Wafer-Level-Test und Prozessoptimierung für Halbleiterbauelementausbeuten. FLX 2320-S integriert fortschrittliche messtechnische Funktionen und Technologien, um die Genauigkeit und Effizienz bei Wafertests zu verbessern. Die integrierte Wafer-Level-Prüfung (IWT) verfügt über eine ausgezeichnete Linearität und Wiederholbarkeit, um eine Vielzahl anspruchsvoller Wafer-Testanwendungen zu bewältigen. Es verfügt auch über Detect und Identifizieren (D&I), eine einzigartige Messdiagnosetechnologie, die Wafertest fehlerhafte Bedingungen identifiziert und behebt. TOHO TECHNOLOGY FLX 2320-S bietet auch fortschrittliche automatisierte Ausrichtungs- und hochauflösende Bildgebungsfunktionen, die eine verbesserte Ausrichtungsgenauigkeit und Fehlerklassifizierungsgenauigkeit bieten und zu höheren Erträgen führen. Es ist mit Strahloptik ausgestattet, einschließlich einer spezialisierten und leistungsstarken Laserlichtquelle, um eine bessere Empfindlichkeit für die Messung kleinerer Merkmale zu erreichen. Das größte Merkmal von FLX 2320-S ist der hohe Durchsatz, den es erreichen kann. Es wird aktiv von einer sehr zuverlässigen, risikoscheuen Programmiersprache für die Automatisierung verwaltet, was die Testzeit optimiert und die Zuverlässigkeit erhöht. Darüber hinaus ist es effizient in Bezug auf Messgeschwindigkeit und Wiederholbarkeit, dank seiner überlegenen Daten-Handling-Funktionen, die einen schnellen Zugriff auf Messergebnisse ermöglichen. TOHO TECHNOLOGY FLX 2320-S bietet Anwendern auch Rückverfolgbarkeit und Lebensdauersteuerdaten, um Aufzeichnungen über alle Messungen zu führen, was eine einfache Wartung und Langzeitgenauigkeit ermöglicht. Es hat auch eine leistungsstarke Funktion, die alle verwandten Kalibrierung Drift im System entfernt. Dieses multifunktionale und einfach zu bedienende System ist in der Lage, die komplexen und oft schwer messbaren Wafer zu handhaben, die in modernen Anwendungen vorhanden sind. Die detaillierten und präzisen Ergebnisse, die es liefern kann, sind von unschätzbarem Wert für die Erzielung hoher Geräteerträge. FLX 2320-S ist die perfekte Wahl für sehr kleine und sehr große Wafer-Testanwendungen.
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