Gebraucht TOKYO SEIMITSU DIAH84 #187300 zu verkaufen

TOKYO SEIMITSU DIAH84
ID: 187300
Weinlese: 1986
Test system 1986 vintage.
TOKYO SEIMITSU DIAH84 ist eine hochpräzise automatisierte Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um die Eigenschaften von Halbleiterscheiben zu messen und zu analysieren. Es verwendet die neueste Technologie in der optischen Bildgebung und Messtechnik, um verschiedene Aspekte des Wafers zu messen, einschließlich Mustergröße und Oberflächentopographie. Das System besteht aus einem optischen Mikroskop und einer integrierten messtechnischen und bildgebenden Einheit. Das Mikroskop besteht aus zwei getrennten optischen Bildgebungs- und Messtechnik-Systemen (open-closed type), die im Tandem arbeiten, um Bilder von Wafern zu machen. Beide Systeme haben eine hohe numerische Apertur von 0,85 und mit hoher Vergrößerung bis 200x, wodurch extrem hohe Präzisionsmessungen erreicht werden. Die integrierte Messtechnik und Bildverarbeitungsmaschine ist mit einer Drehbühne ausgestattet, die einen schnellen und einfachen Zugang zu allen Oberflächen des Wafers ermöglicht. Die Drehstufe weist eine hohe Positions- und Drehzahlgenauigkeit auf. Darüber hinaus verfügt DIAH84 über ein integriertes Laserinterferometer, das eine genaue und präzise Messung optischer Eigenschaften wie Dicke, Oberflächenrauhigkeit und Form ermöglicht. Mit diesem Werkzeug kann der Benutzer leicht das Profil von winzigen, komplexen Mustern auf der Waferoberfläche messen. Das Laser-Interferometer sorgt auch für eine hohe Wiederholbarkeit zukünftiger Messungen. Weiter zeigt der Vermögenswert auch ein Hochleistungsbildverarbeitungsmodul, das dem Benutzer ermöglicht, genaue und hochauflösende Maße schnell zu erhalten. Mit seiner einfach zu bedienenden grafischen Benutzeroberfläche kann das Modell ohne vorherige Kenntnisse der Messtechnik betrieben werden. TOKYO SEIMITSU DIAH84 ist ein leistungsstarkes und hochgenaues Werkzeug für Wafertests und Messtechnik und eignet sich für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen wie Prozesskontrolle und Fehlerbehebung. Mit seiner Glasfaser-Zugänglichkeit ist die Ausrüstung leicht zu bewegen und kann in einer Vielzahl von Fertigungs- und Laborumgebungen verwendet werden. Es ist ein ideales Werkzeug für industrielle Anwender, die hochpräzise Wafer-Testfunktionen benötigen.
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