Gebraucht TOKYO SEIMITSU E-MF1000-100 #9374930 zu verkaufen

TOKYO SEIMITSU E-MF1000-100
ID: 9374930
Wafer thickness measurement system.
TOKYO SEIMITSU E-MF1000-100 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur hochpräzisen Messung und Auswertung integrierter Schaltungen. Das System bietet eine fortschrittliche Auswerteplattform auf Waferebene, die SLAM (Structured Light Advanced Measurement) und hochgenaue Stufenpositionierungstechnologie verwendet, um Wafer schnell zu messen und zu analysieren. Es kann alle wichtigen Leistungsindikatoren einer integrierten Schaltung messen, einschließlich elektrischer Eigenschaften, physikalischer Abmessungen und elektrischer Leckagen. Seine SLAM-Technologie verfügt über eine dual-axiale Lasereinheit, die in der Lage ist, weitreichende Abmessungen zu messen und eine gründliche Sichtprüfung durchzuführen. Das Hochgeschwindigkeits-optische Messwerkzeug der Maschine kann mehrere Zonen gleichzeitig messen und hat eine schnelle Reaktionszeit von 0,8 ms Es verfügt auch über eine automatische Fehlerauswahl und eine robotergestützte Wafer-Kartierungstechnologie, mit der es mögliche Fehler auf Wafern genau identifizieren kann. Die Anlage ist mit einem Drehtisch ausgestattet, um schwingungsarme Messungen und eine zuverlässige Teilepositionierung zu ermöglichen. Die vollautomatisierte Robotik kann Wafer und Teile ohne menschliches Eingreifen bewegen. Es kann Prozessparameter messen, um Prozessoptimierung und Wiederholbarkeit zu gewährleisten und mögliche Fehler oder Fehlstellen zu identifizieren. Das Modell verfügt auch über einen fortschrittlichen Waferlader, der bis zu 15 Wafer pro Stunde be- und entladen kann, wodurch eine große Anzahl verschiedener Wafertypen verarbeitet werden kann. Es bietet auch Echtzeit-Mapping (RTM) und Echtzeit-Reflexionsanalyse, bietet den Betreibern Echtzeit-Feedback über die Prozessbedingungen und bietet volle Rückverfolgbarkeit. Die Ausrüstung ist in der Lage, präzise Operationen und ist in der Lage, Messungen und Auswertungen in mehreren Einheiten, einschließlich Nanometer, Mikrometer und Mikrometer. Es verfügt auch über ein Z-Achsen-Protokoll für den Wafer, so dass mehrere Schichten von Prozessdaten und Echtzeit-Feedback von Änderungen in der Wafer-Layout und Struktur. Darüber hinaus ist das System in der Lage, Daten zu protokollieren und zu plotten und bietet einen umfassenden Überblick über den gesamten Produktionsprozess. Anhand dieser Daten können Bereiche zur Verbesserung identifiziert und Produktionsprozesse und Produktqualität optimiert werden. Das Gerät verfügt auch über eine einfache Benutzeroberfläche, so dass es einfach für Bediener zu bedienen. Insgesamt ist E-MF1000-100 eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die für die hochpräzise Messung und Auswertung integrierter Schaltungen entwickelt wurde. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen für die Roboter-, Bildgebungs- und Datenanalyse bietet das Tool eine umfassende, hochpräzise Ansicht des gesamten Waferproduktionsprozesses. Dank der einfachen Benutzeroberfläche, der präzisen Mess- und Auswertefunktionen sowie der Datenprotokollierung und Plotting-Funktionen ist es ein idealer Vorteil für hochpräzise Wafertests und Messtechnik.
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