Gebraucht TOKYO SEIMITSU Surfcom 590A-64 #9374922 zu verkaufen

TOKYO SEIMITSU Surfcom 590A-64
ID: 9374922
Wafer surface measurement system.
TOKYO SEIMITSU Surfcom 590A-64 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um genaue, zuverlässige Daten und Operationen für die Halbleiterindustrie bereitzustellen. Dieses System ist eine umfassende Lösung für Wafertests, Messtechnik, Fehlerortung und Überprüfung. Surfcom 590A-64 bietet überlegene automatisierte mechanische Messtechnik. Es verfügt über acht einzelne Bewegungsachsen in drei Richtungen (X, Y, Z). Dies ermöglicht eine präzise Waferausrichtung mit einer Genauigkeit von ± 0,5 μ m. Zusätzlich besteht der ScanHead aus vier Messsensoren, darunter X-Y-Stufen zur positiven Identifizierung der Waferposition. Dies ermöglicht eine hohe Genauigkeit der Abtastbarkeit auf Substraten bis zu 8 Zoll. TOKYO SEIMITSU Surfcom 590A-64 verfügt über eine Vielzahl von Wafer-Testfunktionen, einschließlich optischer Inspektion, elektrischer Tests und mechanischer Tests. Die optische Inspektionsfunktion erkennt Fehler schnell und präzise durch den Einsatz einer hochauflösenden CCD-Kamera. Weitere Merkmale sind die Fähigkeit, Fremdstoffpartikel und Kratzer auf Wafern durch die Detektion von Lichtintensitätsschwankungen genau zu lokalisieren. Schließlich misst die elektrische Prüffunktion mit einem elektronischen Projektor Parameter wie die effektive Widerstands- und Widerstandsverteilung von Kontaktpads und Spuren. Surfcom 590A-64 verfügt auch über eine erweiterte Fehlerprüfeinheit, mit der Benutzer Wafer-Fehlerinformationen schnell und einfach überprüfen und dokumentieren können. Diese Maschine kann bis zu 500 Fehlerbilder und Textdaten speichern und bietet die laufende Pflege des Bildverlaufs für ein verbessertes Fehlermanagement. Darüber hinaus kann dieses Tool mögliche Ursachen von Fehlern identifizieren und automatisch Qualitätsverbesserungsmethoden vorschlagen. Insgesamt ist TOKYO SEIMITSU Surfcom 590A-64 eine hochentwickelte Wafer-Test- und Metrologie-Komponente, die eine überlegene automatisierte mechanische Scan-Messtechnik und verschiedene Wafer-Testfunktionen bietet. Surfcom 590A-64 liefert zuverlässige, hochgenaue Daten zur Unterstützung der Halbleiterindustrie. Das fortschrittliche Fehlerüberprüfungsmodell sorgt zudem für ein verbessertes Fehlermanagement und Qualitätsverbesserungen.
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