Gebraucht TOKYO SEIMITSU YR-60 #9258195 zu verkaufen

TOKYO SEIMITSU YR-60 ist eine hochentwickelte Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die zur Inspektion der Halbleiter-Wafer-Eigenschaften entwickelt wurde. Mit Hilfe der Vision-basierten Technologie können YR-60 die gesamte Waferoberfläche einschließlich unregelmäßiger Form oder gekrümmter Wafer genau überprüfen. Das System besteht aus einer automatisierten Röntgeneinheit zur hochgenauen Waferdickenmessung sowie einer mikroskopischen Messstation mit 3D-Inspektionsmöglichkeiten. Darüber hinaus wird die hochauflösende Bildgebung durch eine fortschrittliche Kameramaschine mit einem breiten Mikroskopbereich und Steuerungssensoren bereitgestellt. Das fortschrittliche Kamera-Tool ermöglicht eine einfache Ausrichtung und bietet überlegene Sichtbarkeit, um präzise Messungen zu gewährleisten. TOKYO SEIMITSU YR-60 ist für Wafer bis 300mm Durchmesser ausgelegt. Mehrere Performances können auf demselben Wafer ausgeführt werden, und jede Performance wird zur zukünftigen Referenz in einer Datenbank gespeichert. Durch diese Funktion entfällt die Notwendigkeit, jeden Wafer physisch zu messen und zu vergleichen. Neben der Messung der Dicke ist YR-60 in der Lage, die Form, Abmessungen, Ebenheit und Geometrie des Wafers zu untersuchen. Das Asset verwendet Oberflächenrauhigkeitsmessungen, um sicherzustellen, dass die Waferoberfläche eine gleichmäßige Textur aufweist. TOKYO SEIMITSU YR-60 bietet auch eine breite Palette von Dehnungsmessungen, einschließlich Krümmung, Bindungsfestigkeit, Stress und thermische Steifigkeit. Die Daten von YR-60 werden durch mehrere fortschrittliche Softwarelösungen analysiert, darunter die SEMITOOL Test Suite von SEIMITSU, die automatisch Bilder, Oberflächenmerkmale und allgemeine Wafer-Zustandsberichte erkennt und präsentiert. Der SEMITOOL Data Analyzer wird auch verwendet, um die Eigenschaften der Leistung eines Wafers zu analysieren, so dass zuverlässige Datenvergleiche und unvoreingenommene Datenanalysen möglich sind. TOKYO SEIMITSU YR-60 ist ein sehr vielseitiges und anspruchsvolles Modell für Wafertests und Messtechnik. Seine fortschrittliche Kameratechnologie, Messgenauigkeit und automatisierte Vermessungs- und Analysefunktionen machen es zu einer idealen Wahl für die Halbleiterproduktion aller Komplexitätsstufen.