Gebraucht VEECO 150 #293623421 zu verkaufen

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ID: 293623421
Weinlese: 2011
Profilometer 2011 vintage.
VEECO/DEKTAK 150 ist eine moderne Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es bietet eine umfassende Palette von Mess- und Fehleranalysegeräten, um eine breite Palette von Wafereigenschaften zu messen, von Dicke, Ebenheit und Oberflächengüte bis hin zu elektrischen Eigenschaften, Transistoren und mehr. Das System ist entworfen, um schnelle, genaue Ergebnisse und ausgezeichnete Wiederholbarkeit zu liefern, so dass es ideal für Qualitätskontrolle und Halbleiterprozessanalyseanwendungen ist. VEECO 150 verfügt über eine automatisierte, motorisierte XY-Bühne, mit der Benutzer die physikalischen Eigenschaften von Wafern präzise positionieren und automatisch messen können. Das Gerät kann bis zu neun Wafer gleichzeitig messen, wodurch Benutzer Daten schnell über verschiedene Wafer vergleichen können. DEKTAK 150 kann zur Messung von Oberflächeneigenschaften standardmäßige Mehrpunkt-Sondentests und Profilometrietechniken nach Industriestandard verwenden. 150 ist in der Lage, Wafereigenschaften wie Dicke und Ebenheit, Oberflächenrauhigkeit, Oberflächenreflektivität und Fehleranalyse zu messen. Die Maschine kann auch elektrische Eigenschaften wie Flächenwiderstand und Trägerkonzentrationen messen. Es ist mit einem Vision-Tool zur Erkennung und Messung von Defekten in den Wafern ausgestattet. VEECO/DEKTAK 150 ist für die einfache Integration in bestehende Produktionslinien und Prozesse konzipiert. Das Asset verfügt über mehrere digitale I/Os und eine analoge Eingangsleitung mit Präzisionsthermometerschaltung, die eine Integration in Prozessleitsysteme ermöglicht. VEECO 150 ist ein ideales Modell zur Messung unterschiedlichster Wafereigenschaften. Seine schnellen, genauen Ergebnisse machen es zu einer großen Wahl für Qualitätskontrollanwendungen, während seine breite Palette von Funktionen macht es eine gute Wahl für Halbleiterverarbeitungsanalysen. Die Anlage ist so konzipiert, dass sie einfach in bestehende Produktionslinien und -prozesse integriert werden kann und somit eine ideale Wahl für Wafer-Tests und Messtechnik ist.
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