Gebraucht VEECO / BRUKER NPFLEX #9309128 zu verkaufen

VEECO/BRUKER NPFLEX ist eine fortschrittliche Messtechnik und Wafer-Prüfung, die für die Herstellung und Erforschung von Verbundhalbleitermaterialien entwickelt wurde. Dieses Gerät bietet einen schnellen und präzisen zerstörungsfreien Test verschiedener Verbindungen, einschließlich III-V-Verbindungshalbleiter, auf Wafern. Mit einer Kombination aus einem Mikroskop für sichtbares Licht und einem optischen Nahfeldmikroskop (NSOM) kann das System eine hohe laterale Auflösung (bis zu 50 nm) erreichen. Die hohe laterale Auflösung ermöglicht die Untersuchung verschiedener Strukturen auf den Proben, die von grundlegenden Merkmalen wie Mikro/Nanobügel und Gräben bis hin zu komplexeren Mustern wie Cantilever Sondenspitzen, nanoelektronischen Geräten und photonischen Schaltungen reichen. Das Gerät verfügt auch über Datenerfassungs- und Bildgebungsfunktionen, die schnelle Messungen und Mikroskopie-Scans ermöglichen. Dies ermöglicht es Benutzern, umfangreiche Bilder mit einer Vielzahl von Parametern zu erfassen und zu analysieren, von grundlegenden elektrischen Eigenschaften wie Stromdichte und elektrischer Permittivität bis hin zu komplexeren Parametern wie der Verteilung optischer und elektrischer Felder. Neben der Datenerfassung und Bildgebung ist VEECO NPFLEX auch in der Lage, 3D-Mapping mit einer Kombination mehrerer Mikroskopietechniken durchzuführen. Auf diese Weise erhält der Anwender ein detailliertes dreidimensionales Bild der Waferoberfläche, indem er nacheinander feine Höhendetails abbildet. Die 3D-Mapping-Fähigkeit ist besonders nützlich für Nanomanufacturing-Anwendungen wie tatsächliche Linienbreitenmessungen, Oberflächenrauhigkeitsmapping, Bildgebung von hohen Seitenverhältnissen und Wafer-Deformationsanalyse. Insgesamt ist BRUKER NPFLEX eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die hochauflösende Bildgebung und schnelle Datenerfassung kombiniert, um ein vollständiges Bild von zusammengesetzten Halbleiterscheiben zu liefern. Auf diese Weise können Anwender detaillierte Informationen und Analysen über die Mikro-/Nanostrukturen auf dem Wafer erhalten und sind somit ein perfektes Werkzeug für diejenigen, die an der Herstellung und Erforschung von Verbundhalbleitermaterialien beteiligt sind.