Gebraucht VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK 150 #293651562 zu verkaufen
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VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 150 ist eine branchenführende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um die Dicke, Zusammensetzung, Topographie, den Widerstand und das Profil von Wafern genau und zuverlässig zu messen. VEECO DEKTAK 150 verfügt über einen optischen Hochvergrößerungsprofiler.Das macht ihn ideal für Sub-Micron-Pegelprüfung und -messung. Das System hat einen vertikalen Bereich von 250 Mikron, einen lateralen Bereich von 450 Millimetern, eine Abtastrate von 150 Scans pro Minute und eine Auflösung von 0,25 Nanometer. Es ist in der Lage, Hochgeschwindigkeitsmessungen durchzuführen und kann die Dicke von dünnen Schichten und leitfähigen Schichten genau messen. Darüber hinaus verfügt SLOAN DEKTAK 150 über eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen, wie eine Probenheizstufe, die es dem Gerät ermöglicht, temperaturabhängige Proben sowie Probentemperaturen bis 500 ° C zu messen. Es hat einen hohen Durchsatz, schwingungsarme Konstruktion für bessere Stabilität, die seine Genauigkeit und Wiederholbarkeit verbessert. Die Maschine wird auch mit VEECO einfach zu bedienender Smart Tech-Software geliefert, mit der Benutzer automatisierte Tests mit minimaler Rüstzeit schnell konfigurieren und ausführen können. Mit seinem vielseitigen Spektrum an Messprogrammen und Fähigkeiten wie 2D- und 3D-Mapping, automatisierten Waferdickeltests, Wafer-Oberflächenrauhigkeiten, Topographie-Bildgebung und mehr ist BRUKER DEKTAK 150 die perfekte Lösung für Qualitätssicherungstests. DEKTAK 150 ist vielseitig, benutzerfreundlich und hochgenau und somit ideal für verschiedene Anwendungen in der Halbleiterindustrie. VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 150 ist in der Lage, eine Vielzahl von Wafereigenschaften zu messen, um Anwendern detaillierte Berichte zu liefern. Es funktioniert auch gut für Forschungsanwendungen, die Qualität und Genauigkeit der Ergebnisse zu gewährleisten. Insgesamt ist VEECO DEKTAK 150 ein zuverlässiges und genaues Messtechnikwerkzeug, das Anwendern detaillierte Messungen für eine Vielzahl von waferbasierten Tests und Messungen bietet. Mit einer Reihe fortschrittlicher Funktionen und hohem Durchsatz gewährleistet es genaue und wiederholbare Ergebnisse für eine Vielzahl von Industrie- und Forschungsanwendungen.
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