Gebraucht VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK 150 #293655591 zu verkaufen

VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 150 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die speziell entwickelt wurde, um schwach leitfähige Materialoberflächen und -strukturen mit einer hohen Genauigkeit zu messen. Dieses System bietet eine Reihe von Merkmalen, die es zu einer idealen Wahl für eine Reihe von Anwendungen machen, einschließlich nanoskalige Abbildung von Halbleitersubstraten, Waferform Charakterisierung, Messung von Widerstand und Temperatur, und vieles mehr. VEECO DEKTAK 150 ist eines der kleinsten Systeme seiner Art auf dem Markt, mit einer Gesamtfläche von nur 40 cm ², so dass es ideal für Werkbank und automatisierte Laboreinstellungen. Es ist in der Lage, Merkmalsgrößen bis zu 0,8 nm zu messen und kann Oberflächen bis zu 92,8 cm lang mit einer Präzision von weniger als 2,5 nm profilieren. Die Optik des Geräts bietet eine bis zu 50fache Vergrößerung und wird in Kombination mit einem leistungsstarken Laserinterferometer für zusätzliche Genauigkeit eingesetzt. Darüber hinaus nutzt SLOAN DEKTAK 150 eine proprietäre Elektrodentechnologie zur Messung des Widerstandes. Diese Technologie ermöglicht genaue Widerstandsmessungen über einen weiten Bereich von Temperaturen und Dotierbedingungen mit Empfindlichkeiten bis zu 0,005%. Diese Funktion ist für Anwendungen wie erweiterte Texturmapping, Resistivity Imaging und mehr wesentlich. Die Maschine ist auch in der Lage, sowohl in Luft- als auch in Vakuumumgebungen zu messen und bietet eine umfangreiche Flexibilität bei den Arten von Anwendungen, die unterstützt werden können. Insgesamt ist BRUKER DEKTAK 150 ein hochpräzises und vielseitiges Wafer-Prüf- und Messtechnikwerkzeug. Seine geringe Größe, fortschrittliche Optik und sein ausgeklügeltes Elektrodendesign machen es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, von Texturmapping und Resistivity Imaging bis hin zu nanoskaligen Oberflächenprofilen. Als solches ist es ein wertvolles Werkzeug für jedes Labor oder jede Forschungsumgebung, das genaue Ergebnisse liefern möchte, wenn es um die Messung hochleitfähiger Oberflächen und Strukturen geht.