Gebraucht VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK 8 #293589975 zu verkaufen

ID: 293589975
Profilometer PC Controller Non-functional frame grabber card Operating system: Windows XP.
VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Messung der physikalischen, elektrischen und elektronischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben verwendet wird. Dieses von VescoVEECO in Zusammenarbeit mit dem Semiconductor Institute entwickelte System nutzt anspruchsvolle optische Profiler und elektronische Testsysteme, um die Details im Profil jedes Chips zu erfassen. Zu den Hauptkomponenten der Einheit gehören ein Scanner, ein Controller und mehrere Messköpfe. Der Scanner ist eine präzise bearbeitete Stufe, die eine Vielzahl von Probengrößen unterstützt. Es hat eine XYZ-Positionierung, die in der Größe und sehr genau ist, normalerweise besser als 1 Mikron, so dass der Benutzer Funktionen auf dem Wafer zum Messen und Testen genau lokalisieren kann. Der für die Verarbeitung Verantwortliche ist für die Verwaltung der Funktionen des Geräts verantwortlich, wie die Erfassung von Daten, die Vorverarbeitung der Daten und die Bereitstellung der Ergebnisse im menschenlesbaren Format. Einer der wichtigsten Teile der Maschine sind die Messköpfe. Hier werden eine Vielzahl von optischen Profilen, mechanischen Profilometern, elektrischen Testern und anderen messtechnischen Geräten angebracht. Diese Messköpfe werden verwendet, um verschiedene Parameter jedes Wafers zu messen, einschließlich Oberflächenrauhigkeit, elektrischer Widerstand, Spannung, Wärmebeständigkeit und Haftung. Ein weiterer wichtiger Bestandteil des VEECO DEKTAK 8 Werkzeugs ist die Umweltkammer. Diese Kammer dient zur Steuerung der Menge der Umgebungsgase und der Temperatur. Die Umgebung innerhalb der Kammer kann manipuliert werden, um die Zuverlässigkeit der Materialien in Partikelverunreinigungen, korrosive Gase und verschiedene Wetterbedingungen zu untersuchen. SLOAN DEKTAK 8 ist in der Lage, eine Vielzahl von Messergebnissen zu erzielen. Es ist äußerst nützlich, die Fehlerstellen in Waferstrukturen zu ermitteln und Prozessfehler aufzudecken. Dies kann eine enorme Hilfe bei der Verbesserung der Wafer-Prozesseffizienz und der Entwicklung von Chips mit besserer Leistung sein. Darüber hinaus können Betreiber die Datenanalysefunktionen des Asset nutzen, um Trends bei der Entwicklung ihrer Produkte zu verfolgen und zu analysieren. Insgesamt ist das Modell BRUKER DEKTAK 8 ein vielseitiges, äußerst präzises und zuverlässiges Instrument für die Prüfung und Messtechnik von Halbleiterscheiben. Die Kombination aus optischen Profilern, mechanischen Profilometern, digitalen Testern und Umweltkammern macht es zu einer ausgezeichneten Wahl für jedes Halbleiterforschungs- und Entwicklungsprojekt.
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