Gebraucht VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK 8 #293754273 zu verkaufen
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ID: 293754273
Profilometer
(2) Chambers
Roughness
Vertical resolution: 6.55 µm
3D Topography measurement
Stress and defects samples: 200 mm
Step height repeatability: 7.5 A Step
Sigma maximum sample thickness: 25.4 mm
No PC.
VEECO, SLOAN und BRUKER sind namhafte Unternehmen, die für ihre fortschrittlichen Technologielösungen im Bereich der Materialanalyse und Messtechnik bekannt sind. VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8 ist eine anspruchsvolle Wafer-Prüf- und Messtechnik, die das Know-how und die Technologien dieser drei Branchenführer kombiniert, um umfassende und genaue Lösungen für die Messung der Oberflächenprofile von Halbleiterscheiben und anderen Dünnschichtmaterialien anzubieten. Eine der Schlüsselkomponenten des VEECO DEKTAK 8-Systems ist die proprietäre Stylus-Profiler-Technologie, die hochpräzise Messungen der Oberflächenrauhigkeit, Schritthöhen und Foliendicke mit Sub-Nanometer-Auflösung ermöglicht. Der fortschrittliche Stylus-Profiler besteht aus einem scharfen diamantgekippten Stift, der die Oberfläche der Probe abtastet und selbst kleinste Höhen- und Topographieschwankungen erkennt. SLOAN DEKTAK 8 Einheit ist mit mehreren Messmodi und Analysefunktionen ausgestattet, um eine breite Palette von Probentypen und Messanforderungen zu erfüllen. Diese Vielseitigkeit ermöglicht es Anwendern, verschiedene messtechnische Aufgaben wie Schritthöhenmessungen, Foliendickenanalyse, Oberflächenrauhigkeitskennzeichnung und Linienbreitenprofilierung mit hoher Genauigkeit und Wiederholbarkeit auszuführen. Die Maschine DEKTAK 8 verfügt über eine benutzerfreundliche Oberfläche und eine intuitive Software, die den Mess- und Analyseprozess optimiert. Die Software ermöglicht es Benutzern, Messparameter, Datenanalyseeinstellungen und Berichtsformate anzupassen, wodurch es einfach ist, genaue und detaillierte messtechnische Berichte für Forschungs-, Entwicklungs- und Qualitätskontrollzwecke zu erstellen. BRUKER DEKTAK 8 Tool bietet auch erweiterte Automatisierungsfunktionen, wie motorisierte Bühnensteuerung, mehrere Musterpositionierungsoptionen und Batch-Messfunktionen, die die Produktivität und Effizienz in Hochdurchsatz-Testumgebungen verbessern. Diese Automatisierungsfunktionen ermöglichen es Benutzern, schnelle und genaue Messungen an mehreren Proben in einem einzigen Lauf durchzuführen, wodurch die Messzeit reduziert und der Durchsatz erhöht wird. Ein weiteres bemerkenswertes Merkmal von VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8 ist seine Kompatibilität mit einer breiten Palette von Wafergrößen und -materialien, einschließlich Silizium, III-V-Verbindungen, Saphir, Glas und Polymeren. Diese Vielseitigkeit macht das Modell für eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiterherstellung, Materialforschung, Dünnschichtabscheidung und anderen Branchen geeignet, in denen präzise Oberflächenprofilierung und Messtechnik unerlässlich sind. Insgesamt stellt VEECO DEKTAK 8 Wafer-Prüf- und Messtechnik eine hochmoderne Lösung für genaue und zuverlässige Oberflächenmessung und -analyse dar. Seine fortschrittliche Technologie, benutzerfreundliche Schnittstelle, Automatisierungsfähigkeiten und Kompatibilität mit verschiedenen Mustertypen machen es zu einem wertvollen Werkzeug für Forschung und Entwicklung, Qualitätskontrolle und Prozessoptimierung in der Halbleiter- und Materialwissenschaftsindustrie.
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