Gebraucht VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK XT #293756643 zu verkaufen

VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK XT ist ein Wafer-Prüf- und Messtechnik-Gerät mit einem Stylus-basierten berührungslosen Verfahren. Es wurde entwickelt, um Materialien vor und nach der Verarbeitung zu charakterisieren und nanoskalige Oberflächentopographie, Oberflächenrauhigkeit und Dicke zu messen. VEECO DEKTAK XT nutzt die Atomic Force Microscopy (AFM) Technologie, die Kräfte zwischen der Sonde und der Oberfläche erfasst und 3D-Topographiebilder der Probenoberfläche liefert. Das Standardsystem bietet eine 3-Achsen-Stufe zur Probenpositionierung mit einem standardmäßigen Maximalweg von 100 × 100 mm und einer Maximalgeschwindigkeit von 0,5 mm/s. Der vertikale Aktuator bietet eine Wegstrecke von bis zu 24,3 mm und umfasst einen Oberflächenkontaktdetektor zur genauen Messung von Abstandswerten und der Dicke von Schichtproben. Typische Auflösung ist 0,05 Mikron in Z (vertikale) Richtung. Der Scankopf der Einheit enthält einen linearen Encoder, der es der Sonde ermöglicht, sich beim Scannen effizient und präzise über die Probe zu bewegen. Der Scankopf nutzt eine integrierte optische Kapazitätserkennungsmaschine und spielfreie bidirektionale Stufenstepper und hat 8 Mikrometer Wiederholbarkeit entlang seiner vollen X/Y-Wegstrecke. Das Tool beinhaltet einen Computer, Monitor und Gerätesteuerung sowie Software zur Steuerung der Bewegung des Scankopfes und Manipulators, zum Streamen und Aufzeichnen von Scandaten sowie zur Datenanalyse. Optional stehen Kalibrierung, automatisierte Kalibrierung, Durchsatzverbesserung und erweiterte Messoptionen zur Verfügung. SLOAN DEKTAK XT ist extrem präzise, stabil und zuverlässig und wird für eine Vielzahl von Anwendungen wie Dünnschichtdicken- und Widerstandsmessungen, Verschleiß- und Korrosionsstudien, bifunktionelle Oberflächenmessungen, Oberflächenrauhigkeit, Flachheit und Schritthöhe eingesetzt.