Gebraucht VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK XT #293797519 zu verkaufen

VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK XT ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die Präzisionsmesstechnik von Halbleiter- und MEMS-Geräten entwickelt wurde. Es bietet ein innovatives Design und eine Kombination aus fortschrittlichen Technologien wie Laserstrahlscannen, kapazitiver Erfassung und automatisierter Bildgebung, die es von anderen Systemen, die derzeit auf dem Markt sind, unterscheidet. Das System wird von der neuesten Laserstrahl-Scan-Technologie angetrieben, die auf atomarer Ebene für hohe Auflösung und Genauigkeit auf Gerätefunktionen arbeitet. Diese Lasertechnologie ist mit einer Kombination aus iterativen elektrischen Messungen und Bildgebung gekoppelt, um einen umfassenden Blick auf die Wafereigenschaften zu ermöglichen. VEECO DEKTAK XT verfügt auch über einen großen, einfach zu bedienenden kapazitiven Sensorstift, der Oberflächentopologie, Rauheit und Profilinformationen auf einer Vielzahl von Wafermaterialien genau messen kann. Dieses Stiftdesign ermöglicht auch die Automatisierung mehrerer Messungen, um den Durchsatz zu erhöhen. SLOAN DEKTAK XT bietet auch eine integrierte bildgebende Einheit, die es Anwendern ermöglicht, die Oberflächenmorphologie eines Wafers schnell und genau zu analysieren. Es stellt ein 10-Mikron-Auflösungsbild der Proben zur Verfügung, mit dem kritische Geräteparameter wie Schritthöhen, Linienbreiten und isolierte Merkmalsgrößen berechnet werden können. Schließlich ist diese Maschine in der Lage, die Ebenheit eines Wafers innerhalb von 1 Winkel der Toleranz genau zu messen. Dies wird mit proprietären Algorithmen erreicht, die zur Kompensation von Oberflächen- oder Strukturfehlern ausgelegt sind. Abschließend ist DEKTAK XT ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnik-Tool, das Präzisionsmessungen auf atomarer Ebene mit Funktionen wie Laserstrahl-Scanning, kapazitives Sensing und automatisierte Bildgebung bereitstellt. Dieses Asset ist ideal für Anwender, die nach einer vielseitigen und zuverlässigen Lösung für ihre Wafer-Tests suchen.