Gebraucht VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK XT #293812083 zu verkaufen

VEECO / BRUKER / ist SLOAN DEKTAK XT eine Oblatenprüfung der nächsten Generation und Metrologieausrüstung, die hoher Präzision 3D-Nanoskalaoberflächenformmaße bietet. Das System wurde entwickelt, um den Durchsatz zu erhöhen und die Produktionskosten für Großserienhersteller von mikroelektronischen Komponenten zu senken. Das Gerät verwendet ein maßgeschneidertes, kontaktbasiertes Stiftprofilometer für genaue, wiederholbare und zuverlässige Messungen. Das Stiftprofil ist in der Lage, mehr als 500 verschiedene Punkte pro Sekunde zu messen. Die Messungen werden direkt von der Waferoberfläche durchgeführt, was eine hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit ermöglicht. Darüber hinaus bietet die Maschine ihren automatisierten Wafer-Aligner (AWA) zur hochpräzisen, schnellen und genauen Platzierung des Wafers an der richtigen Position für Scanfeldmessungen an. Die AWA wurde entwickelt, um Echtzeitkorrekturen vorzunehmen, um sicherzustellen, dass der Stift bei aufeinanderfolgenden Scans immer denselben Oberflächenpunkt auf der einzelnen Matrize auf einem Wafer kontaktiert. Neben den Hardwarekomponenten umfasst das Tool eine Vielzahl von Softwareanwendungen zur Erleichterung von Wafertests und Messtechnik. So ermöglicht die mehrstufige Funktionsmessung hochgenaue und wiederholbare Messungen. Das AFR-Modell (Automated Feature Recognition) arbeitet mit dieser Anwendung zusammen, um kritische Merkmale von Wafern schnell und genau zu erkennen. Zur Ausstattung gehört auch die EDR-Anwendung (High-Speed Edge Detection and Review). Diese Funktionen ermöglichen es dem Bediener, die Randbedingungen und die hochräumigen Partikel und Verunreinigungen auf Wafern innerhalb von Sekunden schnell zu überprüfen. Darüber hinaus verfügt das System über eine umfassende FIC-Einheit (Feature Identification/Classification), um eine Vielzahl von Merkmalstypen schnell zu identifizieren und zu klassifizieren. VEECO DEKTAK XT Maschine hilft, Produktionszeit und Kosten für eine Vielzahl von Anwendungen deutlich zu reduzieren. Es nutzt fortschrittliche Technologien und Tools, um nanoskalige Funktionen auf Wafern schnell und genau zu messen. Der automatisierte Aligner und die Erkennungstechnologien ebnen den Weg für schnellere Wafertests und Messtechnik. Damit ist sie eine hervorragende Lösung für großvolumige Hersteller von mikroelektronischen Bauelementen, die nanoskalige Merkmale auf Wafern schnell und präzise messen möchten.