Gebraucht VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK XT #9299921 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 9299921
Weinlese: 2012
Surface profiler Vacuum adsorption Chuck size: 100 x 100 mm PC Stage: 4" x 4" Manually adjusting chuck Operating system: Windows 7 Power control box missing 2012 vintage.
VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK XT ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die hochgenaue Messungen von Waferparametern wie Dicke, Tiefe, Profil und CD liefert. Es wurde entwickelt, um berührungslose, zerstörungsfreie Messungen von dünnen Wafern durchzuführen. Das System misst die Wafer ohne Kontaktsonden oder Flüssigkeitsätzen. VEECO DEKTAK XT verwendet Röntgeninterferometrie, d.h. es berechnet die Unterschiede der Röntgenlaufzeiten zwischen der Ober- und Unterseite der Waferoberfläche. SLOAN DEKTAK XT bietet sowohl absolute Profil- als auch Stufenhöhenmessungen und ist damit ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Halbleitermesstechnik, Oberflächenstrukturanalyse und Flachbildschirm-Messtechnik. BRUKER DEKTAK XT verfügt über einen großen 800 mm x 600 mm XY Scanner-Tisch, der für maximale Wafer-Abdeckung ausgelegt ist. Es ist auch mit einer hochpräzisen Z-Stufe ausgestattet, die eine volle Auflösung von 10 nm ermöglicht. Der XY-Scanner wird von einer dreiachsigen Servosteuerung und die Z-Stufe von einem Hochgeschwindigkeitsmotor angetrieben. DEKTAK XT verfügt auch über ein Vakuumfutter, das die Wafer bei der Bilderfassung sicher hält. VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK XT verfügt über die MetumaxTM Profilsoftware, die eine schnelle und genaue Profilerfassung ermöglicht. Die MetumaxTM Software kann Funktionen mit einer Größe von bis zu 0,25 Nanometern messen. Darüber hinaus verfügt die Profilsoftware über ein Analysetool nach der Messung, mit dem Datensätze zwischen Messungen verglichen und in spezialisierter Anwendungssoftware gesammelte Daten analysiert werden können. VEECO DEKTAK XT verfügt über eine eingebaute Kameramaschine, mit der der Wafer während der Messung überwacht werden kann. Die Kamera kann Bilder mit einer Auflösung von bis zu 1024 x 768 aufnehmen. Die Kamera ermöglicht es dem Bediener auch, Profilbilder zum Vergleich und zur Nachbearbeitung zu speichern. SLOAN DEKTAK XT ist ein leistungsstarkes und hochpräzises Wafertest- und Messtechnikwerkzeug. Es ist ideal für eine Vielzahl von Anwendungen und bietet eine breite Palette von Funktionen und Funktionen. BRUKER DEKTAK XT ist eine ausgezeichnete Wahl für jede Organisation, die genaue Messungen dünner Waferparameter verlangt.
Es liegen noch keine Bewertungen vor