Gebraucht VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK XT #9359011 zu verkaufen

ID: 9359011
Wafergröße: 6"
Profilometer, 6".
VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK XT ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die aus einer automatisierten motorisierten Bühne, einem Laser- und Videomikroskop, einer leistungsstarken Vision Coordinate System (VCS) Software und einem optischen Multisensor-Profilometer besteht. Das Gerät bietet nicht nur präzise 2D-Oberflächen- und 3D-Prozessmessungen, sondern bietet auch erweiterte Fähigkeiten wie automatisierte Overlay-Messung sowie eine fortschrittliche optische Inspektion, mit der die Prozess- und Produktqualität analysiert werden kann. Der Multi-Sensor VEECO DEKTAK XT ist für eine Vielzahl von Anwendungen konzipiert, darunter die Messung von Gesenk- und Gesenkwafern für Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen sowie 3D-Messungen von Nanoelementen. Mit SLOAN DEKTAK XT kann ein Benutzer die Zeit, die erforderlich ist, um genaue Messungen einer Vielzahl von Oberflächenmerkmalen durchzuführen, erheblich reduzieren, was eine effizientere Produktion von Wafern und Geräten ermöglicht. DEKTAK XT besteht aus einem optischen Profilometer mit einer Auflösung von einem Mikron, das genaue und zuverlässige 3D-Messungen liefert; ein proprietäres Softwarepaket, VCS; und eine vollautomatisierte motorisierte Stufe. Die motorisierte Stufe verwendet piezoelektrische Bewegungssteuerung und piezoresistive Feedback-Technologie, um die Probe in einer zuverlässigen, wiederholbaren und stabilen Umgebung genau zu positionieren. Das leistungsstarke VCS-Softwarepaket ermöglicht es dem Anwender, einfache oder anspruchsvolle Berechnungen und Datenanalysen durchzuführen, während eine spezielle Kippstufe auch zur Erfüllung der Bedürfnisse der Anwender bei der Messung von Wafern mit gekrümmten oder nicht gleichmäßigen Oberflächen enthalten ist. BRUKER DEKTAK XT ist in der Lage, präzise und zuverlässige 3D-Messungen anzubieten und ist speziell für automatisierte Overlay-Messungen konzipiert. Mit dieser Maschine werden präzise Overlay-Messungen automatisch und schnell durchgeführt, was eine effizientere Produktion von Gesenk- und Gesenkprodukten ermöglicht. Das Werkzeug bietet auch eine schnelle und präzise optische Inspektion, die ein leistungsstarkes Mittel zur Analyse von Prozess und Produktqualität ist. VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK XT ist ein äußerst vielseitiges Asset, perfekt für die Messung und Analyse von Wafern und Geräten. Richtungen bis zu 1 Mikron können gemessen werden, und Benutzer haben Zugriff auf erweiterte Funktionen wie automatisierte Overlay-Messung. Die intuitive und leistungsstarke VCS-Software ermöglicht eine anspruchsvolle Datenanalyse und die vollautomatisierte motorisierte Stufe sorgt für mehr Präzision und Stabilität. Insgesamt ist VEECO DEKTAK XT ein genaues und zuverlässiges Wafer-Prüf- und Messtechnik-Modell, ideal für eine Reihe von Anwendungen.
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