Gebraucht VEECO / DEKTAK V- 300 SL #293634653 zu verkaufen

VEECO/DEKTAK V- 300 SL ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnikgerät, das für den Einsatz in der Halbleiter- und Solargeräteprüfung, Charakterisierung und Messtechnik entwickelt wurde. Dieses System wurde entwickelt, um schnelle und genaue Messungen sowie eine robuste Datenerfassung und -analyse in einem tragbaren, kostengünstigen Paket bereitzustellen. VEECO V 300SL verfügt über ein großes 13,3-Zoll-LCD-Display und erweiterte optische und abtastende Sensoren. Diese Sensoren bieten automatisierte 3D und 2D Messungen über die gesamte Waferoberfläche, die in Echtzeit präsentiert werden. Das Gerät verfügt über eine leistungsstarke, proprietäre Softwareplattform, die mit den neuesten Codierungssprachen ausgestattet ist und es Anwendern ermöglicht, Testprotokolle einfach einzurichten und anzupassen. DEKTAK V300-SL nutzt eine High-Originality Point of View (HOPOV) Freiträgheits-Scanstufe. Dieses leichte, leistungsstarke Gerät verfügt über zwei Querschnitts- und Einzelquerschnittsstufen für die automatisierte Planansicht und hochauflösende Oberflächenprofilierung. Die Planview-Bühne bietet 600 Freiheitsachsen mit einem Scanbereich von 50 μ m und einer Messgenauigkeit von 0,5 μ m. Die hochauflösende Stufe bietet bis zu 1,8 μ m Genauigkeit und 8 µm seitliche Auflösung. Diese Stufen sind für den Einsatz mit einer Reihe von Substratmaterialien optimiert und arbeiten synchron mit den 3D-Ultraschall-Scanfunktionen der Maschine. Das Tool kann einfach mit einem oder mehreren optischen und abtastenden Sensoren konfiguriert werden, einschließlich 2D-Laser (nicht-invasiv) und 4D-Laser (invasiv) Scannern, 3D-sonic Scanning und Raman and Scanning Electron Microscope (SEM) Scannern. Zusammen mit diesen Sensoren umfasst das Asset auch eine Reihe weiterer hochpräziser Mess- und Messträgersysteme, wie zweiachsige Autolager, Wafer-Level-Mapping und Fokusüberwachung. Die Konnektivität ist einfach und umfassend. Mit Wi-Fi und Ethernet-Funktion kann DEKTAK V 300SL an externe Netzwerke angeschlossen werden, wodurch der Zugriff auf Ausgänge, Logikplatinen und andere Geräte ermöglicht wird. Darüber hinaus sind eine Reihe von Nachbearbeitungsoptionen enthalten, wie Datenerfassung, Sortierung, Datenvisualisierung und autonome Entscheidungsunterstützungssoftware. VEECO/DEKTAK V 300SL ist ein unglaublich vielseitiges und leistungsstarkes Wafertest- und Metrologiemodell. Seine Kombination aus fortschrittlichen optischen und Scanfunktionen und Unterstützung nach der Verarbeitung ist in seiner Klasse beispiellos. Diese Ausrüstung ist auf Geschwindigkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit ausgelegt, was sie zur perfekten Option für Labore, Forschungs- und Entwicklungsabteilungen und größere Unternehmen macht.