Gebraucht VEECO / DEKTAK V 300Si #293585852 zu verkaufen

VEECO/DEKTAK V 300Si ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die entwickelt wurde, um genaue, wiederholbare Messungen und erweiterte Prozesskontrolle in einem kompakten Formfaktor bereitzustellen. Dieses System eignet sich für eine breite Palette von Labor- und Produktionsumgebungen, von kleinen Forschungseinrichtungen bis hin zu großen Industriestandorten. Das Gerät verfügt über eine vollständig integrierte, berührungslose 3-axiale Messtechnik-Maschine, kombiniert mit einer leichten, starren XYZ-Stufe für die Messung von Proben bis 300 mm Durchmesser. Das kontaktlose Messtechnik-Tool verwendet fortschrittliche Laser-Triangulationstechnologie, die eine hohe Präzision, geringe Rauschen und lineare Wiederholbarkeit Messung über große Δ Zaktuationen ermöglicht. Dieses Asset verfügt auch über eine einzigartige zweiachsige Stufe für hochgenaue Neigungs- und Rotationsmessungen von Probenoberflächen. Für die Wafer-Prüfung enthält VEECO V-300SI ein mechanisches Wafer-Sondenmodell, das eine zerstörungsfreie Prüfung und Messung von Wafern mit einem Durchmesser von bis zu 12 Zoll ermöglicht. Dieses Gerät verfügt über ein rückbeleuchtetes Kalibriersystem, das kontrastreiche Bilder liefert und Oberflächenrauhigkeit, Oberflächenhöhe und optische Parameter wie Reflexion, Rückstreuung und Homogenität genau messen kann. Für die erweiterte Prozesssteuerung und -analyse verwendet DEKTAK V-300 SI fortschrittliche Algorithmen, um Beispieloberflächenmerkmale zu identifizieren und kritische Parameter wie Linienbreite und Raumbreite, kritische Bemaßungen und Ungleichmäßigkeiten abzubilden. Diese Einheit enthält auch einen einzigartigen Drift-Korrektur-Algorithmus, der im Laufe der Zeit kleine Änderungen der Flachheit des Wafers kompensieren kann. In Bezug auf die Benutzeroberfläche bietet VEECO/DEKTAK V-300 SI intuitive, einfach zu bedienende Software mit grafischen Entscheidungsdiensten und automatisierter Datenanalyse. Es wird auch mit einer Vielzahl von Programmiersprachen und APIs geliefert, mit denen Benutzer ihre Testumgebung anpassen und die Fähigkeiten der Maschine maximieren können. Insgesamt ist DEKTAK V 300Si ein fortschrittliches Wafer-Test- und Messtechnik-Tool, das entwickelt wurde, um genaue, wiederholbare Messungen und erweiterte Prozesskontrolle in einem kompakten Formfaktor bereitzustellen. Mit seiner einzigartigen kontaktlosen Messtechnik und fortschrittlichen Analysealgorithmen ist dieses Modell perfekt für eine breite Palette von Labor- und Produktionstestumgebungen.