Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 210 #9249370 zu verkaufen

ID: 9249370
Weinlese: 2004
Atomic force profiler 2004 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 210 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die den Anwendern schnelle und genaue Daten zur Verfügung stellt. Es ermöglicht es Forschern, kritische elektrische und physikalische Parameter an Proben von bis zu 8 Zoll Größe zu messen. Dieses innovative System verfügt über eine automatische Wafer-Handhabungseinheit, erweiterte Bildgebungsfunktionen und automatisierte Datenerfassung. VEECO Dimension VX 210 nutzt seine revolutionäre Wafertool-Software, um automatische Waferausrichtungen und Mustererkennung durchzuführen. Es verfügt über ein einzigartiges Spannfutter, das präzise Messungen ohne manuellen Eingriff gewährleisten soll. Dadurch minimiert die Maschine Fehler und erhöht die Produktivität. DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION VX210 verfügt zudem über einen einzigartigen Wafer-Ebenheitsmonitor, der die Ebenheit oder den verzogenen Zustand der Waferoberfläche in Echtzeit visualisiert. Dies hilft Wafer Qualität und Ertrag zu verbessern. Darüber hinaus verfügt es über erweiterte Bildgebungsfunktionen, die durch das digitale Videomikroskop (DVM) für Vollwafer-, Einzeldüsen- und Querschnittsmessungen bereitgestellt werden. Dieses Mikroskop hat einen Vergrößerungsbereich von bis zu 600 Mal mit einer Pixelauflösung bis zu 1600 x 1200. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 210 wurde entwickelt, um eine schnelle und genaue Visualisierung von Mustermerkmalen und Materialien zu ermöglichen. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION VX210 wird von einem fortschrittlichen Datenerfassungswerkzeug angetrieben, das elektrische, physikalische und optische Eigenschaften in Echtzeit aufzeichnen kann. Das Asset wurde entwickelt, um Hunderte von gleichzeitigen Tests auszuführen und die Daten schnell in andere Anwendungen oder Datenbanken zu exportieren. Es bietet auch eine interne Datenbank, die Testergebnisse für eine spätere Überprüfung speichern kann. Insgesamt ist DIMENSION VX210 ein Wafer-Test- und Metrologiemodell der nächsten Generation, mit dem Benutzer kritische elektrische und physikalische Parameter testen und messen können. Es ist eine umfassende Ausrüstung mit automatisierter Wafer-Handhabung, bildgebenden Funktionen und Datenerfassung. Die Wafertool-Software sorgt für präzise Messungen mit minimalen Fehlern und Datenfehlern. Das System ist ideal für Forschung und Entwicklung, Geräteausfallanalyse und Zuverlässigkeitssicherung.
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