Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 340 #9286899 zu verkaufen

ID: 9286899
Atomic Force Profiler (AFP).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 340 ist eine fortschrittliche, automatisierte Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die den Anforderungen von Produktions- und Forschungs- und Entwicklungslabors gerecht wird. Dieses System wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Wafergrößen und Prozessabläufen zu bewältigen, von der Multi-DOF-Messtechnik bis hin zu einer breiten Palette von Prozesstestanwendungen, die mehrere Achsen und mehrere Ergebnisse erfordern. VEECO Dimension VX 340 ist speziell für die nanoskalige Forschung konzipiert. Es verfügt über eine 0,3 nm Wiederholbarkeit Stufe mit Nanometer-Stufe Skalierung Genauigkeit, so dass Forscher Eigenschaften innerhalb Nanometer Pegelmessung Unsicherheiten genau messen können. Es ist auch mit einem TEM-Oberflächendetektor ausgestattet, der spektrale Empfindlichkeit zur Messung über einen Wellenlängenbereich von UV bis Infrarot bietet. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 340 bietet einen optionalen thermoelektrischen AC-DC-Vorspannungsgenerator zur Messung elektrischer Eigenschaften von Wafern, die mehrere Vorspannungsstufen erfordern. Darüber hinaus umfasst das Gerät sowohl CCD- als auch EDX-Sensoren (energiedispersive Röntgenspektroskopie) für die In-situ-Messtechnik und -analyse. Das CCD wird für die Bildgebung und das EDX für die elementare oder kulturelle Analyse verwendet. Die Maschine ist in der Lage, verschiedene Eigenschaften einer Vorrichtung wie Oberflächenrauhigkeit, Zähigkeit, Verschleiß, Wärmeleitfähigkeiten usw. zu messen. Es ist mit einer Futter- und Probenladestation ausgestattet, die den automatisierten Vorgang der Übertragung von Wafern von der Ladestation auf die Bühne und dann nach Abschluss der Messungen unterstützt. Darüber hinaus bietet Dimension VX 340 auch eine umfassende Suite an Software- und Hardwarefunktionen. Die mehrschichtige Software bietet volle Unterstützung für industrielle Automatisierung, Überwachung und Reporting, so dass Benutzer Wafer effizient und präzise mit minimalem Training und Erfahrung bearbeiten können. Die benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche (GUI) vervollständigt das Tool und maximiert die Benutzerproduktivität, indem Benutzer schnell Einstellungen ändern und Daten in einem visualisierten Format erfassen können. Die GUI bietet dem Benutzer Tools zur Datenanalyse, Visualisierung und Erstellung von Berichten, die den Einblick des Benutzers in die aus dem Asset gesammelten Daten verbessern. Insgesamt ist VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 340 ein robustes, hochautomatisiertes Wafer-Test- und Metrologiemodell, das Forschern eine umfassende Palette automatisierter Funktionen sowie die Leistung bietet, Eigenschaften auf Nanometerebene mit hoher Genauigkeit zu messen.
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