Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 #9097586 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9097586
Weinlese: 2001
Atomic force profiler
(5) FIB TIP
Set of (50) TERSPA HAR TIP
Currently de-installed
2001 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 ist eine hochmoderne Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für die anspruchsvollsten Anwendungen in der fortschrittlichen Halbleiterverarbeitung und -charakterisierung entwickelt wurde. VEECO VX 210 ist in der Lage, präzise Messungen der Oberflächentopographie, elektrische, optische, thermische und Dehnungseigenschaften einer Vielzahl von Substraten bereitzustellen. DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 ist mit einem integrierten Strukturscanmikroskop (SSM) ausgestattet, das in der Lage ist, hochauflösende Bilder einer Reihe von Probenoberflächen bereitzustellen. Es verfügt über Beispielstufen-Baugruppen, die einfach zu konfigurieren sind und eine genaue Positionierung der Substrate ermöglichen. Darüber hinaus wird VX 210 mit umfassender Software gebaut, die die Erfassung, Analyse und den Vergleich von Oberflächenmerkmalen wie Oberflächenrauhigkeit, Schritthöhe, Mustergröße und Musterposition ermöglicht. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Die elektrische Messtechnik des VX 210 macht es ideal für die Charakterisierung von Gerätestrukturen und Verbindungsleitungen. Sein integriertes elektrisches Charakterisierungssystem ist in der Lage, komplexe elektrische Reaktionen einer Reihe von Teststrukturen zu überwachen und Eigenschaften wie Frequenzgang, Impedanz, Spannungsverstärkung und Paketleckage zu analysieren. Darüber hinaus verfügt VEECO VX 210 über eine breite Palette von optischen Messpaketen, die die optische Reflektivität, Transmission und Absorption von Proben messen können. Schließlich verfügt DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 über eine innovative dreiachsige thermische Sonde zur Messung der Wärmebeständigkeit verschiedener Materialien sowie eine einzigartige Spanneinheit, die die Probenverformung in Echtzeit überwachen kann. Die dreidimensionalen Scanmöglichkeiten der VX 210 machen sie zu einer idealen Maschine für Anwendungen wie MEMS (microelectromechanical systems), die die Entwicklung physikalischer und chemischer Prozesse testen und überwachen. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS VX 210 wafer testing and metrology tool ist die ideale Lösung, um die anspruchsvollsten Anforderungen an die Halbleitercharakterisierung zu erfüllen. Das umfangreiche Angebot an integrierten Messtechnik-Paketen, kombiniert mit hochgenauen Bildgebungsfunktionen und Echtzeit-Überwachungsfunktionen, machen es zu einem leistungsstarken Werkzeug für verschiedene fortschrittliche messtechnische Aufgaben.
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