Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 150 #293808885 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 150 ist ein multifunktionales Wafer-Prüf- und Messtechnik-System zur Halbleitercharakterisierung. Es kann gleichzeitig die Höhe, Oberflächenstruktur und verschiedene elektrische Eigenschaften von Halbleiterscheiben messen. VEECO DEKTAK 150 verwendet ein proprietäres Rasterkraftmikroskop, um die physikalischen Eigenschaften von Halbleiterscheiben zu messen. Es verwendet eine niederkraft-, hochauflösende Auslegersonde, um die Höhen einheitlicher oder ungleichmäßiger topografischer Merkmale mit Mikrometer-Auflösung zu messen. Es kann auch Oberflächenstruktur mit einer Auflösung von bis zu 5 Nanometern charakterisieren. Das Rasterkraftmikroskop kann verwendet werden, um die Falten, Gruben, Spitzen und andere physikalische Oberflächenmerkmale des Wafers zu messen. SLOAN DEKTAK 150 enthält auch eine Reihe von elektrischen Charakterisierungsmessungen. Sein Vier-Punkt-Tastrevolver ermöglicht die Messung von Flächenwiderstand, Kontaktwiderstand und Oberflächenpotentialen auf einer Vielzahl von Wafertypen. Es enthält einen Kapazitätsabtaster zur Messung von Kapazitätsspannung und Kondensatoräquivalentreihenwiderstand. DEKTAK 150 enthält auch ein elektrisches Parameter-Charakterisierungssystem, das Mikroprofile verwendet, um Geräteparameter im statischen oder dynamischen Modus zu messen. VEECO/SLOAN DEKTAK 150 wird durch ein funktionsreiches Softwarepaket unterstützt, mit dem Benutzer ihre Ergebnisse schnell und effizient genau analysieren und dokumentieren können. Seine intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern auch, ihre Messungen auf verschiedene Weise zu visualisieren. Die Software unterstützt Anwender bei der schnellen Auswertung von Prozessmetriken auf Waferebene, wie Rauschen, Verstärkung und Aufschlüsselung. Benutzer können auch eigene Analyseskripte anpassen, um ihre Workflows zu optimieren. VEECO DEKTAK 150 ist ein ideales Werkzeug für Qualitätssicherungsteams, Forschungseinrichtungen und Ingenieurlabore. Seine Konfigurierbarkeit und Multifunktionalität ermöglichen eine genaue Bewertung und Optimierung von Prozessentwicklungszyklen. Es kann sowohl physikalische als auch elektrische Charakterisierungsmessungen gleichzeitig durchführen, so dass Benutzer ihre Prozessparameter schnell entwickeln und verfeinern können. Das Softwarepaket macht die Datenerfassung und -analyse einfach und effizient und unterstützt die effiziente Durchführung von Experimenten.