Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 150 #9281986 zu verkaufen

ID: 9281986
Weinlese: 2010
Profiler Missing / Damaged parts: Lifting mechanism Probe fixing device System controller Probe Host 2010 vintage.
VEECO/SLOAN DEKTAK 150 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für die Herstellung von Halbleiterbauelementen. Das System bietet präzise Messungen der Waferoberflächeneigenschaften, wie Kantenposition, Oberflächentopographie und Oberflächenrauhigkeit. Es kann Merkmale wie Beulen, Gruben und Stufen sowie Oberflächenverunreinigungen messen. Das Gerät verwendet eine Stiftspitzensonde zum Scannen und Messen von Probenwafern. Die Sonde ist an einem Arm befestigt, der mit einem Linearmotor verbunden ist. Dieser Motor bewegt den Dreharm, wodurch die Position des Stiftes relativ zur Waferoberfläche eingestellt wird. Die Maschine enthält auch ein automatisches Nivellierwerkzeug, das eine genaue Ausrichtung der Sonde auf den Wafer ermöglicht. Das Asset kann mit einer Vielzahl von Sensortechnologien konfiguriert werden, darunter Kapazität, Interferometrie und optische Profilometer. Für jeden Sensortyp enthält das Modell optische Streifen, die von den Stiftspitzen abgetastet werden, um die Oberflächentopographie des Wafers zu messen. Die Softwarefunktionen von VEECO DEKTAK 150 ermöglichen benutzerdefinierte Kalibrier- und Analyseeinstellparameter. Es enthält auch eine benutzerfreundliche grafische Menüoberfläche mit Hilfefunktionen, die es einfach macht, die Ausrüstung zu navigieren und auf bestimmte Funktionen zuzugreifen. Darüber hinaus bietet das System leistungsstarke Datenanalysefunktionen mit der Möglichkeit, Berichte, Tabellen und Diagramme für vollständige Waferstudien zu erstellen. Das Gerät kann die Daten auch in einer Vielzahl von Formaten für eine einfache Datenspeicherung und Datenaustausch speichern. SLOAN DEKTAK 150 ist eine zuverlässige und effiziente Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine. Es ist weit verbreitet in Forschungs- und Produktionsumgebungen, da es schnelle Datenerfassung, hohe Zuverlässigkeit und überlegene Genauigkeit in messtechnischen Tests bietet. Die automatisierten Funktionen des Werkzeugs erleichtern es, präzise Wafer-Charakterisierungsmessungen schnell und präzise durchzuführen.
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