Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3 17380C #176168 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3 17380C ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung mit einem flachen vertikalen automatischen Profilometer für die Oberflächenprüfung von Wafern mit einem Durchmesser von bis zu sechs Zoll. Das System ist mit einem proprietären Softwarepaket ausgestattet, das von VEECO Technologies eigens entwickelt wurde und präzise Messungen der Oberflächenmesstechnik mit überlegener Zuverlässigkeit und Genauigkeit ermöglicht. VEECO DEKTAK 3 17380C ist für die kapazitive Füllstandserfassung konzipiert, die höchste Genauigkeit der Oberflächenmessung ermöglicht. Das niederfrequente, flache vertikale Profilometer ist in einem außergewöhnlichen Design gebaut und eignet sich somit ideal für empfindliche Messungen der Oberflächenmesstechnik selbst komplexester Strukturen. Das Gerät ist in der Lage, Profilhöhen bis 300 Nanometer zu messen und erkennt kleine Schwankungen in Höhe und Form des Profils durch sehr kleine Defekte. Das integrierte Softwarepaket verfügt über zwei Basismodi, so dass der Benutzer entweder manuell oder automatisiert wählen kann. Automatisierter Modus automatisiert die Messungen, so dass der Benutzer einfach die gewünschten Profilkriterien eingeben kann, um die gewünschten Ergebnisse zu erhalten. Manueller Modus ermöglicht es dem Benutzer, die Messgrößen direkt in Echtzeit zu ändern, um präzise Anpassungen der Ergebnisse vorzunehmen. Die Maschine enthält auch eine Vielzahl von voreingestellten Parametern, aus denen der Benutzer auswählen kann, um die Einstellungen des Werkzeugs schnell anzupassen. SLOAN DEKTAK 3 17380C verfügt zudem über einen leistungsstarken Daten-E/A-Port, der eine schnelle Datenübertragung ermöglicht. Darüber hinaus ist das Asset mit einer Vielzahl von externen Plattformen kompatibel, einschließlich Windows und Linux. Dies ermöglicht dem Benutzer einen einfachen Zugriff auf die aus dem Modell gewonnenen Daten und eine einfache gemeinsame Nutzung der Daten mit anderen Benutzern. Abschließend ist DEKTAK 3 17380C eine ausgezeichnete Wafer-Prüf- und Messtechnik. Dieses System eignet sich für die Messung einer Vielzahl von grundlegenden und komplexen Strukturen und bietet ein hohes Maß an Genauigkeit, Zuverlässigkeit und Flexibilität, die es zu einer idealen Wahl für jede Wafer-Prüf- und Messtechnik-Anwendung machen.