Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3 #293600237 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ist ein hochpräzises Wafer-Prüf- und Messtechnik-System zur Analyse von dünnen Schichten und Oberflächen. Es liefert genaue und wiederholbare Messungen von Waferoberflächen in Bezug auf lokale Schritthöhen, Gesamtschritthöhen und mittlere Filmdickenergebnisse. Es verfügt über eine Reihe von spezialisierten optischen Komponenten und Software-Tools, um die genauesten und umfassendsten Ergebnisse zu liefern. VEECO DEKTAK 3 verfügt über eine Reihe von optischen Komponenten zur Analyse von Waferoberflächen. Es verwendet ein Interferometer mit Darkfield oder Brightfield LED-Beleuchtung konfiguriert, um hochgenaue durchschnittliche und lokale Dicke Ergebnisse zu erhalten. Um lokale Schritthöhen und Profil zu messen, verwendet SLOAN DEKTAK 3 Contour Reflectron Mapping, das Sub-Nanometer-Auflösungsfähigkeit hat. DEKTAK 3 verfügt auch über ein Rasterelektronenmikroskop, das Anwendern eine maximale Vergrößerung von bis zu 300X und eine monochromatische Bildgebungsfähigkeit bietet. Dies ermöglicht Messungen sehr kleiner Merkmale mit großen Details. Die Software von VEECO/SLOAN DEKTAK 3 bietet eine breite Palette von Funktionen, um die genaue Analyse von Waferoberflächen zu unterstützen. Es ermöglicht Benutzern, Berichte und Statistiken wie Schritthöhe, Abstand und Formelementgröße zu erstellen. Die Software verfügt auch über leistungsstarke Nachbearbeitungsalgorithmen, um versteckte Funktionen von Waferoberflächen aufzudecken. Es ist auch mit einer interaktiven grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglicht, die Ergebnisse intuitiv zu überprüfen. Der Benutzer kann auch Offset- und schwellenbasierte Messkriterien eingeben, die dem Benutzer volle Kontrolle über die Anpassung der Analyse geben. Für weitere Datenanalysen verfügt VEECO DEKTAK 3 über eine erweiterte grafische Analyseoption, mit der Daten in verschiedenen Formaten analysiert werden können, darunter 2D-Profilierungsbilder, X-Y-Diagramme und Oberflächenplots. SLOAN DEKTAK 3 wurde entwickelt, um benutzerfreundlich, effizient und zuverlässig zu sein. Es ist extrem leicht und sehr zugänglich, so dass es ideal für den Einsatz in Wafer-Prüf- und Messtechnik-Laboren. Es kommt mit einer Vielzahl von Hard- und Software-Optionen integriert, so dass es für eine Reihe von Dünnschicht-und Wafer-Anwendungen geeignet. Das System kann auch kalibriert und leicht angepasst werden, so dass Benutzer die genauesten und wiederholbaren Ergebnisse erhalten. DEKTAK 3 ist ein ideales Werkzeug für diejenigen, die eine effiziente und zuverlässige Methode zur Analyse von Dünnschicht- und Waferoberflächen suchen.