Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3 #293681691 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für zuverlässige und genaue Messungen von dünnen Schichten und anderen Materialschichten entwickelt wurde. Das System bietet mehrere innovative Funktionen, darunter eine 8-Zoll-Waferstufe mit 6-Schlitz-Dual-Wafer-Halter und Sub-US-Auflösung zur Messung von Strukturen im Nanometermaßstab sowie eine hochauflösende optische Bildgebungsfähigkeit. Die Einheit ist computergesteuert und verfügt über ein Datenerfassungs- und Datenanalyseprogramm für genaue und wiederholbare Messungen. Die Maschine wurde entwickelt, um eine breite Palette von Substratmaterialien zu messen, darunter SiO2, SiNx, Nitride, Polysilizium, Aluminium und andere dünne Filme. Das Werkzeug ist in der Lage, Schichtdicke und Profil unter verschiedenen Winkeln sowie die Oberflächentopographie und Verschmutzungsstufen mit Laserinterferometrie und anderen optischen Messtechniken zu messen. Es enthält auch eine automatische Kalibrierung und Spiegelkorrektur Funktion, um konsistente und genaue Ergebnisse zu gewährleisten. Das Asset ist mit zwei integrierten und hochautomatisierten Controllern ausgestattet, die Wafer-Testparameter ausführen und speichern. Es kann eine Vielzahl von Probengrößen akzeptieren, von einem bis zu acht mal drei Zoll Wafer, sowie Probenhalter bis zu fünfeinhalb Zoll. Das Modell umfasst auch Software zur Verarbeitung von Echtzeit-Datenerfassung, wobei die Daten im grafischen Format angezeigt werden, sowie eine Datenbank von Messergebnissen für zukünftige Analysen. Neben den Testfunktionen bietet das Gerät auch erweiterte messtechnische Fähigkeiten, die eine Echtzeit-Phasencharakterisierung, Interferometrie, Ellipsometrie, Hysterese-Kartierung, Lebensdauermessungen und mehr ermöglichen. Das System wurde entwickelt, um die höchsten Standards für Genauigkeit, Reproduzierbarkeit und geringe Datenerfassungszeit zu erfüllen. Insgesamt ist VEECO DEKTAK 3 eine zuverlässige und hochgenaue Wafer-Prüf- und Messtechnik-Einheit, die innovative Funktionen bietet, um dünne Filme, Topographie, Phasencharakterisierung und mehr genau zu messen. Es ist einfach zu bedienen und liefert außergewöhnliche Ergebnisse. Mit seinen fortschrittlichen messtechnischen Fähigkeiten kann die Maschine für eine Vielzahl von industriellen Forschungs- und Entwicklungsanwendungen verwendet werden.