Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3 #9189408 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Messung von Filmdicke, Seitenwandwinkel, Oberflächenprofil und Rasterelektronenmikroskopie (SEM) verwendet wird. Das System hat einen Probengrößenbereich von 2,5 bis 6 Zoll (9,5 cm bis 15,2 cm). VEECO DEKTAK 3 ist aus einem Metallrahmen-Design mit einem oberseitigen Viewport, einem integrierten Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskop (SEM) -Detektor und einer automatischen Höhe folgenden Kopfplattform aufgebaut. SLOAN DEKTAK 3 verwendet eine automatisierte Steuerung zur Probenausrichtung und -messung sowie eine integrierte Fernfilmmesseinheit, die es ermöglicht, bis zu 100 Filme in einem Scan zu messen. Es hat auch eine einzigartige Positionskorrekturfunktion, die es für die Neigung der Probe und die Scangröße anpassen lässt, um genaue Messungen zu gewährleisten. Der Benutzer kann auch die Bildverarbeitungsmaschine von DEKTAK 3 verwenden, um Messergebnisse anzuzeigen und Scanparameter zu ändern. VEECO/SLOAN DEKTAK 3 verwendet einen einzigartigen Mikropositionierer, der mit einem piezoelektrischen Aktor angetrieben wird. Dies ermöglicht eine extrem hohe Genauigkeit seiner Messungen; Genauigkeit ist in der Regel um 1 Nanometer. VEECO DEKTAK 3 verwendet auch ein patentiertes Kantenerkennungswerkzeug, mit dem der Seitenwandwinkel, die raue Oberflächentopographie und die Foliendicke gemessen werden können. Darüber hinaus nutzt die Anlage die Barkhausen-Geräuschanalysetechnologie, um das Magnetfeld in der Nähe von Oberflächen zu bewerten. Für die Oberflächenanalyse verfügt SLOAN DEKTAK 3 über ein eingebautes Detektormodell, das den Tunnelstrom in einem Rasterelektronenmikroskop (SEM) detektieren soll. Das Gerät enthält auch eine spezielle Workstation, die dem Benutzer die Möglichkeit gibt, alle Einstellungen zu steuern und die Ergebnisse des SEM in Echtzeit anzuzeigen. Für hochwertige Folienmessungen umfasst DEKTAK 3 auch einen integrierten integrierten Optical Film Thickness Monitor (IFTM), der Folien sowohl in der Reflexion als auch in der Übertragung analysieren soll. Das IFTM verwendet ein optisches System, um die Filmdicke zu messen, die auf 1-2 Nanometer genau ist. Schließlich ist VEECO/SLOAN DEKTAK 3 mit einer automatisierten Datenerfassungseinheit ausgestattet, die von allen Komponenten der Maschine aufgezeichnete Auslesedaten erfassen kann. Dieses Tool wird verwendet, um sicherzustellen, dass alle vom Roboter aufgenommenen Daten ordnungsgemäß erfasst und aufgezeichnet werden, um später analysiert zu werden, um einen besseren Einblick in die Gesamtleistung des Asset zu erhalten. VEECO DEKTAK 3 ist ein hochentwickeltes Wafertest- und Metrologiemodell, das präzise Messungen mit einzigartigen Softwarefunktionen bietet. Es ist eine ideale Wahl für Branchen, die präzise Messungen sowie automatisierte Datenerfassung und -analyse benötigen.