Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 ST #9383773 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 ST ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung zur genauen Charakterisierung von Halbleitermaterialien. Dieses System ist in der Lage, berührungslose, dreidimensionale (3D) Messungen von Halbleiterscheiben mit Nanometergenauigkeit durchzuführen. VEECO 3030ST Unit verwendet lösungsmittelfreie diamantgekippte Stiftsonden, die zuverlässige Messungen über eine Vielzahl von Oberflächentopologien und -merkmalen ermöglichen. SLOAN DEKTAK 3030ST ist mit einem XYZ-Scankopf ausgestattet, der die 3D-Abbildung und Charakterisierung von Waferoberflächen ermöglicht. Der Abtastkopf ist mit einem nanomanipulativen Spitzenkompensationsalgorithmus ausgestattet, der die Genauigkeit der Wafer-Messtechnik erhöht, indem ein konstanter Kontakt mit der Oberfläche über den gesamten Bereich der untersuchten Oberflächen gewährleistet wird. 3030ST verwendet eine geschlossene Scan-Maschine, die schnelle, hochpräzise Messungen mit einer Geschwindigkeit von bis zu 10 mm/s ermöglicht. VEECO/SLOAN DEKTAK 3030ST verfügt über eine Reihe von integrierten Funktionen, die es zu einem zuverlässigen Messtechnikwerkzeug für eine Vielzahl von Anwendungen machen. Dazu gehören ein Laser-Interferometer für die Subnanometer-Oberflächenmesstechnik, eine Hintergrundbeleuchtung zur Erkennung und Analyse von Waferoberflächenfehlern sowie eine voll motorisierte Stufe zum automatisierten Be- und Entladen von Wafern. Weitere Merkmale sind ein Druckregler und eine Dehnungsmessanordnung zur Messung der Kontaktkraft, ein Luftlagertisch zur Gewährleistung der Stabilität beim Scannen und eine einstellbare nachgiebige Kopfaufhängung zur Verringerung der Vibrationen. Das Modell VEECO DEKTAK 3030 ST entspricht einer Reihe von Industrieprotokollen und -standards. Dazu gehören G46, E14 und MM17 für hochgenaue Dünnschichtmessungen sowie FOB und BEETEK für die Analyse von Rückseitenfehlern. Das Gerät ist auch mit Wyko Wafer Mapping Software konform, so dass Benutzer Mapping-Daten in einer Vielzahl von grafischen Formaten analysieren können. SLOAN 3030ST ist ein effizientes und zuverlässiges Wafer-Prüf- und Messsystem, das für eine Reihe von Messungen und Analyseprotokollen konzipiert ist. Dieses Gerät ist mit zahlreichen Funktionen ausgestattet, so dass Benutzer Waferoberflächen mit Nanometerebene Genauigkeit und Genauigkeit analysieren können. DEKTAK 3030 ST entspricht einer Vielzahl von Industriestandards und ermöglicht Benutzern den Zugriff auf eine umfassende Suite von Software-Tools für die Datenverarbeitung und -analyse.