Gebraucht VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 #293815554 zu verkaufen

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die entwickelt wurde, um genaue, zuverlässige Ergebnisse in einer Vielzahl von hochdurchsatz- und zeitkritischen Umgebungen zu liefern. Es verwendet eine präzise, niedrige Kraft XYZ Gimbal-Typ-Sonde mit einem patentierten Autostop® vertikalen Bereich, und eine Kombination von vertikalen und lateralen Scannen, um eine breite Palette von Waferdicke und c-Richtungsdaten genau zu erfassen. VEECO DEKTAK 3030 System kann verwendet werden, um verschiedene Wafer Ebenen im Bereich von 0,5 bis 3,8 Mikrometer Ebenheit, Rauheit und andere Merkmale zu analysieren, und ist in der Lage, Steigungen und Defekte auf einer breiten Palette von Halbleitermaterialien zu erkennen. SLOAN DEKTAK 3030 ist mit einer integrierten Vision-Einheit ausgestattet, die simultane Messungen von zwei verschiedenen Standorten auf einem einzelnen Wafer in nur zwei Minuten ermöglicht, Operationen, die mehrere Minuten dauern würden, wenn manuell durchgeführt. Funktionen wie die Scangeschwindigkeit und die programmierbare Auflösung ermöglichen es, die DEKTAK 3030 Maschine auf die spezifischen Anforderungen der Anwendung und Umgebung zugeschnitten zu sein. Zusätzlich verwendet das Werkzeug eine Z-Control- Asset™ für erhöhte Geschwindigkeit, Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Die Touchscreen-Schnittstelle des Modells VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 dient der Steuerung des Betriebs und bietet eine grafische Echtzeit-Anzeige der Ergebnisse. Das Gerät verfolgt beliebig viele Waferparameter, zeigt skalierte Bilder des gescannten Wafers an und erstellt dreidimensionale Modelle. VEECO DEKTAK 3030 System verfügt auch über eine Reihe von anwendungsspezifischen Software-Funktionen, einschließlich Fähigkeitsanalyse, erweiterte Prozessanalyse und Überprüfung, polynomiale Filterung und Ebenheit/Dicken Profilextraktion. SLOAN DEKTAK 3030 wurde zur Schnittstelle mit proprietären und offenen Messtechnik-Systemen entwickelt. Es kann verwendet werden, um einzelne Wafer und größere Wafer-Lose zu analysieren, so dass es eine ausgezeichnete Wahl für Prozesscharakterisierung und Durchflussmessung in High-Speed-Wafer-Tests, Messtechnik und Produktionslinien-Prozesse. Für fortgeschrittene Wafermessung und -analyse ist DEKTAK 3030 die ideale Wahl in einer Vielzahl fortschrittlicher Forschungs- und Produktionsanwendungen.